サーキットをテストする方法

多コードワイヤの曲線試験機 電気伝導性試験 短回路 モデル:RS-8106B 目的: 折りたたみテストを行うために,多コアケーブル,通信ケーブル,フラットケーブルと信号線に適しています. 試験方法は,ワイヤの片端をショートサーキットクランプし,ローターディスクに固定,右と左を回転させ.........

インパルステストジェネレーター 試験装置 EVSE 試験装置 回路 1 7KV 遵守された基準と条項 IEC 62368-1:2018 第5項に準拠する.4.25 について5.8 及び D 付属 G 付属10表Dの回路11IEC 62368-1:2018第5項に準拠する4.25 に.........

回路基板の温度湿度試験用恒温恒湿試験槽 製品仕様 属性 値 カスタマイズされたサポート OEM ODM 温度範囲 +150～-70℃......

細部を必要としたらSandy@yuyangtest.comに電子メールを送って下さい。 火の状態の下で回路の完全性のための耐火性テストをケーブルで通信して下さい 導入 回路の完全性を維持するために必要なケーブルのテストに使用するべきこの耐火性テスト器具場合の火テスト条件が少なくとも750˚Cの温度に......

詳細情報: SMT#DIP#AOI testing#X光線Testing#はプリント回路Board#PCB Assembly#PCBA Testing#Boxの建物を 1. 特徴 1. 中国のシンセンでなされる1つの停止OEMサービス 2. 顧客からのGerberファイルそしてBOMのリストによって......

試験機、サージのインパルス試験/短絡テストを波立たせて下さい 1. テスト チャート:固定子および巻上げ 2. テスト方法:固定子を導きますクランプが付いているテスターに接続して下さい 3. 技術的な変数 テスト チャート 巻く固定子.........

テストされた制御回路板A20B-3300-0393主要なコントローラーPCBのサーキット ボードのコンパクト 速い細部: 部門:サーキット ボード ブランド:Fanuc モデル:A20B-3300-0393 FANUCについて FA.........

TNT回路をテストするためのIEC60950、IEC60065およびIEC62368-1による鈍い調査 1. 導入 鈍い調査はIEC60950図に従って2CのIEC60065図B1のIEC62151図3のUL6500図B.1のIEC62368-1図V.3設計されている。情報技術装置のTNT回路の露出......

IEC 60898-1 試験装置 断路器 トリッピング特性試験装置 製品紹介: 断路器の熱移動試験器は,IEC 60898-1 に準拠する. これは断路器の遅延,標準 (長遅延) 動作特性試験スタンドです. 標準: IEC 60898-1 電気用アクセサリー - 家庭用および.........

STM32F072CBU6 UFQFPN-48の部品の配分の新しい元のテストされた集積回路の破片IC STM32F072CBU6 Chuangyun Xinyuanの技術Co.、株式会社。 シンセンのchuangyunのXinyuanの技術Co.、株式会社は集積回路およびセンサーの部.........

T-212 GFUVE 200Aのマイクロ オームのメートルのテスターの接触の耐性検査の一定の遮断器の試験装置 T-212 MicroOhmのメートルのテスターは上の開いた構造か車によって取付けられる横のシャーシを採用します。有利それは持っています:より小さい容積、軽量、より強い機能および簡.........

製品の説明: PCBAのサーキット ボードは電子工学の製造業者のための良質、信頼できるおよび費用効果が大きいプロダクトである。それは飛行の調査テスト、X線、AOIテストおよび1日あたりの0.35百万ポイントのすくい容量を達成する機能テストを優秀なテストの特徴に与える。PROE/Solidwor.........

管理委員会のFanuc A20B-3300-0393のサーキット ボードPCBカードはテストした 速い細部: 部門:サーキット ボード ブランド:Fanuc モデル:A20B-3300-0393 FANUCについて FANUCは一貫してに成功したときに、1956年以来の工場のオートメーションを追求し......

実験Solderlessの回路盤のプロジェクト、300ポイント白い研究室試験の回路盤回路のプロジェクト 指定: 1つの末端ストリップ:タイ点の300 接触材料:通常の金属のニッケルはバネ クリップをめっきした 材料の収容:ABS 温度較差:-20~80℃. 接触抵抗:最高100MΩ。（最初）。 絶縁......

GD32F103C8T6 GD NAの部品の配分の新しい元のテストされた集積回路の破片IC...

板および半導体のテスト ボード/薄い板の焼跡のための12Layer HDI PCBs すべてのPCBデザイナー間でかなり共通の典型的なPCBの設計のガイドラインに加えて、板の焼跡を作るための少数の付加的な要因がある。最も重要な考察の1つは板およびテスト ソケットの焼跡に最大級の信頼性および質.........

製品の説明: Impulse Test Generator IEC 62368-1 Circuit 1 Of Table D.1は、IEC 62368規格に準拠した製品評価と品質管理の厳しい要件を満たすように設計された、最先端のIEC 62368試験装置です。この高度な機器は、徹底的な試験プ.........

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