GD32F103C8T6 GD NAの部品の配分の元のテストされた集積回路の破片IC

型式番号:GD32F103C8T6
原産地:中国
最低順序量:パッケージQty
包装の細部:テープおよび巻き枠
受渡し時間:2週
支払の言葉:T/T
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住所: 国際ロジスティクスの中心A-702の第1中国南部道、シンセン、中国
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GD32F103C8T6 GD NAの部品の配分の新しい元のテストされた集積回路の破片IC

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GD32F103C8T6 GD NAの部品の配分の元のテストされた集積回路の破片IC

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