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HPSI 高純度半絶縁性 SiC ウェーハ 2"3"4"6" 8" プライム/ダミー/研究グレード

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HPSI 高純度半絶縁性 SiC ウェーハ 2"3"4"6" 8" プライム/ダミー/研究グレード

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産地 :中国
材料 :HPSI SiCについて
グレード :プライム/ダミー/リサーチ
タイプ :4H半
Orientation :<0001>
サイズ :2/3"/4"/6"/8"
厚さ :500±25μm
TTV :≤5μm/≤10μm/≤15μm
身をかがめる :-25μm~25μm/ -35μm~35μm/ -45μm~45μm
覆い :≤35μm ≤45μm ≤55μm
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HPSI 高純度半絶縁型SiCウエファー 2/3/4/6/8インチプライム/ダミー/リサーチグレード

 


HPSI (High Purity Semi-Insulating) シリコンカービッド (SiC) ウェーバーは,高周波,高電力,高温アプリケーションのために設計された先進的な半導体基板である. 2インチで入手可能,3インチ4インチ,6インチ,8インチ直径で,これらのウエファは,様々な産業および学術ニーズを満たすためにプライム (生産グレード),ダミー (プロセステスト) および研究 (実験) グレードで提供されています..

プライムグレードのウエファは欠陥密度が非常に低く,抵抗性が高く,RFデバイス,電源増幅器,量子コンピューティングアプリケーションに最適です.ダミーグレードは半導体製造におけるプロセス最適化のための費用対効果の高いソリューションを提供します研究グレードは最先端の材料研究とプロトタイプ開発を支援する.

優れた熱伝導性 (> 490 W/m·K) と広い帯域隙 (3.2 eV) を有する HPSI SiC ウェーバーは,5G通信のための次世代電子機器を可能にします電気自動車 (EV) のシステム.

 

HPSI 高純度半絶縁性 SiC ウェーハ 2

 


 

 

仕様表

 

資産 仕様
タイプ 4H半
耐性 ≥1E8ohm·cm
厚さ 500±25μm
軸上 <0001>
軸外 0±0.25°
TTV ≤5μm
ボウ -25μm~25μm
包装する ≤35μm
前面 (Si-face) の荒さ Ra≤0.2nm ((5μm*5μm)

 

 


 

適用するHPSIウエフラー

 

 

1RF&マイクロ波装置
- 5Gベースステーション: 信号損失が少ない高性能アンプ
- レーダーシステム - 空軍・防衛で安定した性能

 

2電力電子
高圧スイッチを効率的に作動する
- 急速充電器: コンパクトで高効率の設計

 

3高技術研究
- ワイドバンドギャップ研究: SiC材料の特性に関する研究

 

4産業プロセス開発
半導体工場の機器の校正

 


HPSI 高純度半絶縁性 SiC ウェーハ 2HPSI 高純度半絶縁性 SiC ウェーハ 2

 

 


 

よくある質問 (FAQ)

 

 

1"半絶縁"の定義は?

半断熱型SiCは非常に高い抵抗性を持ち,RFや高電力デバイスの電流漏れを最小限に抑える.

 

2オーダーメイドできるの?
ええ,私たちはドーピング,厚さ, プライムとリサーチグレードの表面仕上げのカスタマイズを提供しています.

 

3プライムとダミー等級の違いは?
- プライム: 装置の製造 (欠陥が少ない)
プロセステスト (コスト最適化)

 

4ワッフルはどのように包装されますか?
単片パケットからなる真空密封パック

 

5平均的な配達時間は?
- 標準サイズでは2~4週間
- オーダーメイドの場合は4〜6週間

 

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