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1 - 4 の結果 sample preparation for scanning electron microscope から 4 製品
イオンスパッタリング機器、SBC-12、AU、AG、CU、ALが利用できるターゲット このデバイスは、主にSEMサンプル上の導電性フィルムのコーティング用に設計されています。簡単な操作、費用対効果、耐久性があり、小規模から中サイズの走査型電子顕微鏡と一緒に使用する場.........
Time : Mar,22,2025
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探知器SED+CCD、5本の斧の手動段階またはモーターを備えられた段階との8x~800000x 低電圧の下の安定したビーム電流供給の優秀なイメージのEビーム加速 非伝導のサンプルは低電圧で放出させる必要性直接観察することができない 完全にWindowsシステムのマウスが制御する容易.........
Time : Dec,09,2024
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低電力消費 VP-430 振動式磨き機 製品説明: VP-430振動式磨き機は,サンプルの磨きを最小限に抑え,表面ストレスをなくし,ストレスの変形が少ない優れた平らさをもたらします. VP-430 は EBSD (逆分散電子 difrction) の理想的な準備装置ですAFM (原子力顕.........
Time : Dec,11,2024
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