HTDは私達の顧客に良質プロダクトを提供するために捧げる。私達のコネクターテスト項目は挿入損失、リターン・ロス、フェルールに限られなくて記入し、3D干渉、テストそして抗張価値含んでいるが。

HTDは厳しくプロダクト製造の顧客の条件に続く。顧客に測定変数で条件があれば、私達はクライアント要求に従って顧客のanfdの製造プロダクトと先立って慎重に検査する。

挿入損失及びリターン・ロステスト

テレコミュニケーションでは、挿入損失（IL）はdBか（デシベル）、送電線で装置を挿入することに起因するか、または光ファイバーの比率として計算される信号力の損失を示す。それはまた示す減少と信号の損失が出力電力かと入力パワーを比較することによって行うかどの位言うことができる。

より低い挿入損失の価値はよりよい挿入損失の性能を示す。例えば、0.3dBの挿入損失は0.5dBよりよい。

リターン・ロス（RL）は反映された信号力の損失を示す。従ってリターン・ロスがより高ければ、より低い反射の量ある。意味するかどれが繊維のコネクターにRLの高い値のよりよい性能がある。

HTDのコネクターは挿入損失とテストされる100%、パッケージの前にリターン・ロスを。ILおよびRLデータは各パッチ・コードのラベルに記録される。

3D干渉テスト

3D干渉テストは繊維光学のコネクターの端の表面のパフォーマンスパラメータがIECの国際規格の範囲の内にあることを保障する。繊維光学の終点の端の表面/先端の幾何学は繊維光学のコネクターの性能を制御するためのキーファクタである。この幾何学は2つの繊維光学のコネクターか終点が合う場合どの区域接触にか入って来るため定める。

湾曲の半径のような測定の端の表面変数は、頂点相殺し、磨くプロセスの間の繊維の高さは品質管理および品質保証を両方提供する。HTDのPC/UPCのコネクターは90%の率を渡す3D干渉テスト持っている。APCのコネクターは85%の渡る率持っている。下の図表は3D推論テスト変数参照のためである。

コネクター	SC/FC		LC
端	表面	APC	UPC	APC
湾曲の半径	10μm - 25μm	7μm - 25μm	10μm - 25μm	7μm - 25μm
頂点のオフセット	50μm	50μm	50μm	50μm
繊維の高さ	+50μm \| -100μm	+50μm \| -100μm	+50μm \| -100μm	+50μm \| -100μm
傾けられた角度	N/A	8° + 0.5/0.3	N/A	8° + 0.5/0.3

視覚端の表面点検

磨かれたコネクターのフェルールは目視検差が可能な欠陥を見つけるように要求する。これは視野のコネクターを握るために変更される段階を備えている顕微鏡機械によって達成される。繊維光学の点検顕微鏡は拡大30から最も広く利用された範囲で30-100力が400からで力、変わる。コネクターは小さい角度終りでまたはで傷のような磨く欠陥を見つけるために見られる。

クラスAのクラスB

端の表面をである傷なしに最もよい質レベル分類しなさい。クラスBの端の表面はある特定のマイクロメートル（μm）内の複数の傷のために正当である。HTDは通常クラスをコネクター作り出す。但し、クライアント要求が低価格のBのコネクターを分類すれば、私達は顧客がほしいと同時に受け入れ、作り出してもいい。

標準を分類しなさい

区域	区域の範囲	傷	点
	0~25 um	割り当てないため	割り当てないため
B	25~115 um	割り当てないため	割り当てないため
C	115~135um	≦1umは1つを可能にする;>1um割り当てないため	<1um Allow="" 1="">1um割り当てないため
D	135~250um	≦2umは2つを可能にする;>2um割り当てないため	≦2umは2つを可能にする;>2um割り当てないため

クラスBの標準

区域	区域の範囲	傷	点
	0~25 um	割り当てないため	割り当てないため
B	25~115 um	≦2umは3つを可能にする;>2um割り当てないため	<2um Allow="" 3="">2um割り当てないため
C	115~135um	≦2umは3つを可能にする;>2um割り当てないため	≦2umは3つを可能にする;>2um割り当てないため
D	135~250um	≦2umは2つを可能にする;>2um割り当てないため	≦2umは2つを可能にする;>2um割り当てないため