正会員
9 年
| 品質管理装置（ISO標準に続いて下さい） | ||||
|
1. 形態の偏差の点検は浮上します I.Taylor Hobson Contourgraph II.PTI 250RSTM ZYGOのinterferomenter 球形半径:109mm以下 版の精密:λ/20 （N=0.1） 球形の精密:λ/10 （N=0.2） III.FUJINON F601球形レーザーの干渉計 基本水準面の精密:λ/20 0-270mmの湾曲の半径が付いているレンズはテストできます 0-270mmの湾曲の半径が付いているレンズはテストできます IV.OSI-60TPレーザーの平面の干渉計 平面を点検して下さい |
2. 点検の寸法を測って下さい I.ZEISS 3Dの座標の測定機械 1. 平行の、の円形および他の次元次元を測定して下さい。 2. 測定の精密:2μm 光学プロジェクター 測定の精密:0.01mm II.自在継手の工具製作工の顕微鏡 測定の精密:1μm III. Digimatic Micromterのダイヤルの表示器 IV. CPKの点検 V. NIKONG MM-400L用具の顕微鏡 測定の精密:1.5+L/100μm 試験範囲:150x100x150mm |
|||
|
3. コーティングの点検 I.OLYMPUSの分光光度計 波の範囲:380nm-780nm 球形の表面の反射力の直接点検 II.Valianw Cary 5000の分光光度計 波の範囲175~3300nm OD10 高い波長の正確さ III.HITACHI U-4145の分光光度計 適用:ミラーの高い反射 波の範囲:175nm-3300nm 平面のための伝達点検。 積分球が付いている球面レンズの伝達を点検して下さい。 IV.SHIMADZU UV-2450PCの分光光度計 波の範囲:190~1100nm nm。 それに球形の表面の伝送を点検できる統合された球があります。 低い反射の点検、AOI 5度。 平面のための伝達点検。 |
4. 突飛性の点検 I.Eccentricityの点検 ライン偏差の精密:0.01mm 角度偏差の精密:20秒 II.Reflectiveの点検 角度 III.Trioptics Opticentric MOTテストStasion 測定の精密: 5~25mm:0.1%~0.3%; 25~400mm:0.01%~0.03%; 500~1000mm:0.05%~0.3%; 試験範囲:EFL/R:±5~2000mm 湾曲の半径:±5~400
|
|||
|
5. レンズのイメージの質の点検 I.Trioptics MTFの研究室試験システム 分析的なII.MTF III.Projection方法 IV.Imaging機能
|
6. 環境テスト I.Dropテスト II.Crashテスト III.Vibrationテスト IV.Saltのスプレー V.Highおよび低温および湿気テスト |
|||
|
7. 出現の点検 |
||||
