双眼逆にされた冶金の光学顕微鏡NCM-M2000の三倍のNosepiece
Metallographic光学顕微鏡はユーザーが結晶粒度の点検のような半導体のシリコンの薄片の製造業のようないろいろな専門の適用のために、点検および品質管理、砂鋳造の表面の包含および欠陥、結晶学および鉄の金属の鋳物場で分析使用される反映され、透過光と高い拡大で不透明な項目を見ることを可能にします。 それらはまた薄膜の金属穀物の微細構造の分析におよび同一証明、測定、不透明な表面の電気めっきのコーティング、顕微分析、有史以前の石器時代の用具および人工物の調査、冶金学の歴史的保存、調査、および金属の古さびの分析使用することができます。
NCM-M2000によって逆にされる冶金の光学顕微鏡の特徴はそれ大きいサンプル操作の便利であるが私達の金属顕微鏡は双眼で利用でき、直立した、逆にされたおよびブームの立場の顕微鏡システムが付いている三眼鏡モデル、だけでなく、いろいろな金属、合金、非金属材料および組織構造および集積回路、またマイクロ粒子、ワイヤー、繊維、表面状態のいくつかのような表面のコーティング識別し、分析できます。
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NCM-M2000 |
観覧の頭部 |
双眼観覧の頭部の滑走 |
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Monocularの観覧の頭部 |
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統合的な滑走の双眼デジタル頭部 |
○ |
接眼レンズ |
WF10X/18 |
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WF12.5X/14 |
○ |
WF16X/11 |
○ |
客観的 |
無色の目的10X、100X |
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計画の無色の目的40X |
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LWDの計画の無色の目的50X |
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Nosepiece |
三重のnosepiece |
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集中システム |
同軸粗いおよび微調整の良い分割0.002mmの移動範囲30mm |
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段階 |
機械stage180X155mmの移動範囲40X30mm |
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コーラーの照明 |
12V/20Wハロゲン ランプ、調節可能な明るさ |
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フィルター |
青、緑、黄色いおよびすりガラス |
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注:●Standardの用品類、○Optional |
部品:

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