Xi'an Xu&Hui Electromechanical Technology Co., Ltd.

シアン・シュウ&フイ・エレクトロメカニカル・テクノロジー株式会社

Manufacturer from China
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XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

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XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

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モデル番号 :XHBX1502
産地 :シアン市,シャンシ,中国
最低注文量 :1ユニット
支払条件 :T/T
供給能力 :月 500 単位
パッケージの詳細 :木製の包装
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スウィープ周波数応答解析器 XHBX1501

XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

記述

XHBX1501トランスフォーマー巻き変形試験器 (周波数応答方法) は,6KV以上の電力トランスフォーマーおよび他の特殊用途トランスフォーマーを試験するために使用される.

XHBX1501 transformer winding deformation tester uses the frequency response analysis method to measure the winding deformation of the transformer according to the national power industry standard DL/T911-2004トランスフォーマーの各カローリングの振幅周波数応答特性を検出し,検出結果を垂直または水平に比較する.振幅周波数応答特性の変化の程度は,トランスフォーマー巻き込みで発生する変形を決定します..

XHBX1501 トランスフォーマー巻き込み変形試験器 (周波数応答方法) は,測定部分と分析ソフトウェア部分で構成される.測定部分は信号生成と信号測定からなるブラックボックスです解析部分はノートPCで完了し,測定部分はUSBまたはネットワーク経由でノートPCに接続されます.


主要な特徴

1高速で統合されたマイクロプロセッサーを使用します

2ノートPCと楽器との間の通信USBポート.

3ワイヤレスBluetoothポート (オプション) ノートPCと楽器間の通信のために.

4. ハードウェア・ムーブメントは,DDS特殊デジタル高速周波数扫描技術 (米国) を採用し,扭曲,膨張,移動,傾斜などの欠陥を正確に診断することができます.ターン間短回路変形と相間接触短回路.

5高速のダブルチャネル16ビットA/Dサンプリング (タップチェンジャーを変更するためのフィールドテスト,波形曲線が明らかに変化します).

6信号出力振幅のソフトウェア調整,最大振幅ピークは± 10Vです.

7コンピュータはテスト結果を自動的に分析し,電子文書 (Word) を生成します.

8機器は,線形スウィープ周波数測定とセグメントスウィープ周波数測定の二重測定システムの機能を持っています.現在の国内で使用されている 2 つの技術的なジャンル測定モードと互換性がある.

9振幅周波数特性は,振幅周波数特性の試験器の国内技術指標に沿っています.アブシッサ (周波数) は2種類の線形インデックスと対数インデックスを持っていますしたがって,印刷曲線は線形インデックス曲線またはロガリズムインデックス曲線であり,ユーザーは実際のニーズに応じて選択することができます.

10自動データ分析システム

A,B,C相間のローリング類似性の水平比較

分析結果は以下のとおりです.

1 一貫性はとても良い

2 安定性

3 安定性が悪い

4 安定性が非常に低い

A-A,B-B,C-Cの長度比較 ローリング変形を比較するために,元のデータと同じ段階の現在のデータを取ります.

分析結果は以下のとおりです.

1 普通の巻き込み

2 軽度の変形

3 中程度の変形

4 重度の変形

11. 保存と印刷のためのWord電子文書を自動的に生成できます.

12この計器は,電源規格DL/T911-2004の技術要件を完全に満たしています.

XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

低電圧大きさ - 周波数曲線

XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

高電圧大きさ - 周波数曲線


技術パラメータ

XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

ポイント パラメータ

線形スキャン分布

スウィープテスト範囲: (10Hz) - (10MHz) 40000スウィープポイント,解像度は0.25kHz,0.5kHz,および1kHz
断片化されたスウィープテスト分布

断片化されたスウィープテスト分布

スウィープ試験範囲: (0.5kHz) - (1MHz), 2000 スウィープポイント

(0.5kHz) - (10kHz)

(10kHz) - (100kHz)

(500kHzから100kHz)

(500kHz) - (1000kHz)

振幅試験範囲 (-120 dB) から (+20 dB)
振幅試験の精度 0.1dB
スキャン周波数精度 0.01%
シグナル出力幅 ± 20V
試行中の試行重複率 990.9%
計器の大きさ 300×340×120 (ミリ)
計器箱のサイズ アルミ合金 310×400×330 (ミリ)
体重 10kg


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XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

XHBX1502 巻き込み変形テスト SFRA でトランスフォーマー内部の欠陥の正確な診断

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