重慶Newsinの技術Co.、株式会社

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GaNの支えがない基質

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GaNの支えがない基質

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原産地 :中国
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2インチの支えがないGaNの基質

次元:Ф ± 50.8 mmの1つのmm
厚さ:350 ± 25のµm
使用可能な表面積:> 90%
オリエンテーション:M軸線0.35°± 0.15°の方の角度を離れたC平面(0001)
オリエンテーションの平たい箱:(1-100の) ± 0.5°の16.0の± 1.0 mm
二次オリエンテーションの平たい箱:(11-20の) ± 3°の8.0 ± 1.0 mm
総厚さの変化:≤ 15のµm
弓:≤ 20のµm
伝導のタイプ:Nタイプ(Undoped);Nタイプ(GE添加される);Semi-Insulating (Fe添加される)
抵抗(300K):< 0.5 Ω·cm;< 0.05 Ω·cm;>106 Ω·cm
転位密度:1~9x105 cm-2;5x105 cm-2;~3x106 cm-2
1~9x105 cm-2;1~3x106 cm-2;1~3x106 cm-2
ポーランド語:前部表面:RA < 0.2 nm。Epi準備ができた磨かれた
背部表面:良い地面

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