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XJP-407によって逆にされる金属顕微鏡
XJP-407によって逆にされる金属顕微鏡は機械企業のための冶金の構造分析で広く利用されていますおよび地質学の鉱物資源部のミネラル研究の分析、および水晶、集積回路、エレクトロニクス産業のマイクロエレクトロニクスの観察及び測定。それはまた工場のための最初の選択、大学及び大学、科学的な施設およびエレクトロニクス産業です。良質および信頼できる光学系はより明確なs大いにおよび対照のイメージを持って来ます。新しく、簡単図技能は時の潮流に大いにもっと遅れないようにします。人間化された構成設計および便利な操作は、重作業の圧力から解放することを可能にしました。
| 指定 | |
| 観覧の頭部 | 補償の45°で傾向がある自由なTrinocularの頭部 |
| 接眼レンズ | WF10×/18mm |
| WF10×/18mmのreticule 0.1mmが付いているクロスヘア | |
| 客観的 |
DINの計画の冶金の目的:4×/0.1W.D.25mm、 10×/0.25W.D.11mm、20×/0.4W.D.9mm、40×/0.6W.D.3.8mm、 |
| 段階 | 二重層の機械段階 |
| 段階のサイズ:172mm×142mm | |
| 移動範囲:30mm×30mm | |
| フィルター | 挿入しますタイプ フィルター（、黄色緑、青）を |
| 集中 |
ラック・ピニオンのメカニズムの良い集中のスケールとの同軸大まかで及び精密な集中の調節 価値0.002mm |
| 光源 |
開きのアイリス絞りおよび視野絞りを使って、ハロゲン ランプ12V/20W、AC85V-230V、 調節可能な明るさ |
| 分極装置 | 検光子回転360°は、偏光子および検光子両方ight道出て行くことができます |
| 用具の点検 | 0.01mmのマイクロメートル |
| 任意付属品 | 専門の冶金のイメージ分析ソフトウェア |
| 1.3Mega、2.0Mega、3.0Megaの5.0MegaピクセルCMOSDigitalのカメラの接眼レンズ | |
| DINの計画の冶金の目的:50×80×100× | |
| 写真撮影の付属品およびCCD Adapter0.5×、×0.57×0.75× | |
| Darkfieldの簡単なキット | |
| CCDのカメラは、1/3台の″の高リゾリューション520 TVラインを着色します | |