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IC Semiconductor Inspectionのための高い拡大を用いるmicrofocus X Ray System AX9100の直接工場供給
適用:
●SMT、BGA、CSPのフリップ・チップ、LEDの検出。
●半導体、Packagingの部品、Battery Industry。
●電子部品、Auto parts、Photovoltaic Industry。
●アルミニウムにダイカストで形造ることの形成のプラスチック。
●製陶術、他の特別な企業。
特徴:
●90-130KV 7μm X線管。
●高速及びMillionsピクセル高リゾリューションFPD。
●1000X拡大、高精細度の実時間イメージ。
●2.5D画像表示との1ボタン操作。
●オフ・ラインのプログラミング機能、運行モード検出。
●7つの軸線連結、70度の傾きの検出。
| 項目 | 定義 | Specs |
| システム・パラメータ | サイズ | 1350の（L） x1250 （W） x1700 （H） mm |
| 重量 | 1900kg | |
| 力 | 220AC/50Hz | |
| パワー消費量 | 1.6kW | |
| X線管 | タイプ | 閉鎖した |
| Max.Voltage | 130kV | |
| Max.Power | 40W | |
| 点サイズ | 7μm | |
| X線システム | 増強 | FPD |
| モニター | 22"』 LCD | |
| システム拡大 | 1600のX | |
| 検出の地域 | Max.Loadingのサイズ | Φ570mm |
| Max.Inspection区域 | 450mm x 450mm | |
| X線の漏出 | <1> | |
テスト イメージ:
