Unicomp Technology

X線の理性的な検出システムの積分器 プラットホームを追跡するEquipment+Cloud

Manufacturer from China
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Semiconの破片の内部の欠陥の点検のための高リゾリューションのレントゲン撮影機AX8200MAX

Semiconの破片の内部の欠陥の点検のための高リゾリューションのレントゲン撮影機AX8200MAX
  • Semiconの破片の内部の欠陥の点検のための高リゾリューションのレントゲン撮影機AX8200MAX
製品の詳細
Semiconの破片の内部の欠陥の点検のための高リゾリューションのレントゲン撮影機AX8200MAX 適用分野 BGAに広く、CSP適用されてのフリップ・チップ、LEDのヒューズ、ダイオード、PCBの半導体、小さい電池の企業 金属の鋳造、電子コネクター モジュール、ケーブル、宇宙航空部品、光起電企業...
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