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8 年
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SMDケーブルの電子工学の部品のUnicompのX線の探知器AX8300
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モデル |
AX8300 |
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最高kV/type |
110のkV （Option90 kV） /Sealed |
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Max.Electronのビーム力 |
25W （Option8W） |
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焦点点サイズ1 |
7μm |
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システム拡大 |
1000Xまで |
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イメージ投射システム（選択） |
フラット パネルの探知器 |
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マニピュレーター |
傾きの8軸線50度 |
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測定の容積 |
最大負荷区域300x300mm2 |
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Max.sampleの重量 |
5kg |
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モニター |
22" LCD |
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キャビネット次元 |
1100x1100x1650mm |
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重量 |
1700kg |
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放射の安全2 |
<1> |
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制御 |
キーボード/マウス/ジョイスティック |
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自動化された点検 |
標準 |
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第一次適用 |
点検/電子部品/自動parts.etcを欠いて下さい |
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1.Focal点サイズは変数です。unicompに相談して下さい 2.X光線の安全責任:Unicompの技術によって製造されたすべてのレントゲン撮影機は会います FDA-CDRHの規則CFR 21のキャビネットのX線システムのための1020.40 Subchapter J。放射の放出があらゆる外的な表面からのexceed.5millirem/hr.2 "キャビネットのX線のシステム状態のためのFDA-CDRHの標準。私達の機械は普通15timesより少ない放出です。 |
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適用
はんだの退潮の分析
BGAの結合性および分析
はんだの無効の計算
穴の測定および点検によって
測定を無効にする付加は死にます
球のとらわれの分析
ステッチのとらわれの分析
チョップの分析のマイクロBGA/破片
パッドの配列の分析
乾燥した共同検出および分析
目的の段階制御
1. 段階の速度を調節するスペースバーによって:遅く、一定した最高速度
2. キーボード制御X、Y、Zの三軸の動きおよび傾向がある角度
3. ユーザーは段階の速度を制御し、要網的に曲がることができます
点検イメージ: