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Unicomp Technology
X線の理性的な検出システムの積分器 プラットホームを追跡するEquipment+Cloud
Manufacturer from China
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半導体ウエハーの表面の欠陥の検出のための電子工学のUnicomのレントゲン撮影機
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Unicomp X光線
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Unicomp Technology
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シティ：
shenzhen
省/州：
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国/地域：
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企業との接触
半導体ウエハーの表面の欠陥の検出のための電子工学のUnicomのレントゲン撮影機
製品の詳細
電子工学BGA AX8200のためのEMSの半導体のUnicomp PCB X光線機械 X線の検査システムはサーキット ボードの点検、半導体の点検および他の適用に広く加えられた。（オフ・ラインのX線シリーズ）、等オフ・ラインの検出、PCBAに使用する、欠陥分析製陶術包む、プラスチック、LEDで広く利...
製品詳細図 →
商品のタグ：
デジタルディスプレイ ロックウェル硬度テスト
ウエファーの点検
ロックウェル硬度テスト デジタル
