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CQC UL CUL MF58は高温250Degreeガラス貝の精密ダイオードNTCのサーミスターに抗する
R25 （Ω）:0.1K~1000K
使用:世帯の電化製品の温度調整そして検査
PDFの指定のダウンロード リンク: MF58ガラス貝の精密NTC Thermistor.pdf
概要
ガラス貝の精密NTCサーミスターはMF58陶磁器および半導体の技術の組合せを使用して製造されるNTCのサーミスターである。それは錫メッキされた軸鉛が装備され、次に浄化されたガラスと包まれる。
特徴
よい安定性および反復性
高い信頼性
広範囲抵抗:0.1~1000KOhm
抵抗およびベータ価値の堅い許容
高温および高水分の環境で使用可能
小さく、軽く、強いパッケージ、
によ穴PCBsの自動挿入のために適した
急速な応答
高い感受性
適用
家庭用電化製品
オフィス装置
産業
液体の水平な検出
携帯電話電池
集積回路
次元（mm）
指定
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ゼロ力の抵抗の範囲（R25） |
0.1~3780KΩ |
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R25の利用できる許容 |
F= ±1% G= ±2% H= ±3% J= ±5% K= ±10% |
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Bの価値（B25/50°C）範囲 |
3100~4500K |
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利用できる許容誤差Bの価値 |
±0.5%、±1%、±2% |
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誘電正接 |
≥2mW/°C （まだ空気で） |
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熱時定数 |
≤20S （まだ空気で） |
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実用温度範囲 |
-55°C | +250°C |
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評価される力 |
≤50mW |
関連製品
良質および高性能NTCのサーミスターの研修会
私達に破片から成っている陶磁器の粉装置の専有知的財産権の独特なプロセスおよびリーダーの基幹技術が高性能NTCの自動バッチ生産ある。
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信頼度試験
| テスト項目 | テスト標準 | テスト方法 | 性能要件 |
| ゼロ力の抵抗 | IEC 60539-1 | 25℃±0.005℃で一定した温度の浴室、テスト安定した抵抗でサンプルを浸しなさい |
抵抗のtol ±1%
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| Bの価値 | IEC60539-1 | サンプルを一定した温度の浴室で25℃、50℃ （または85℃）、テスト安定した抵抗で浸し、Bの価値を計算しなさい |
抵抗のtol ±1%
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| 自由な落下 |
IEC60068-2-32
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落下高さ:1.5±0.1m、表面:セメント、1回 |
明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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| 絶縁材 |
IEC60539-1
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絶縁材の貝テスト絶縁抵抗の500V圧力 |
>500MOhm
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| 抵抗電圧 | IEC60539-1 |
抵抗電圧:1500V/ACの現在の漏出:2mA持続:60sec
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明らかな損傷無し
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| 張力 | IEC60068-2-21 |
端に均一速度、F>4.0KGを引っ張りなさい（顧客が要求する）
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明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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| 振動 | Q/HBm 108-94 | テスト頻度:10~500Hzの振動:1.2mm加速:30m/s2方向X、Y、Zの時間:8Hour/direction |
明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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| 安定した湿気および熱 | IEC60068-2-78 | 臨時雇用者:40±2℃湿気:92-95%RH時間:1000±24Hour |
明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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| 熱時定数 | EC60539-1 | 25℃水で、熱バランスの後で浸しなさい、85℃の抵抗63.2%で着いたり、計算する合計処理時を浸しなさい |
<10 sec="">
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| 高温貯蔵 | IEC60068-2-2 | 臨時雇用者:125℃±5℃時間:1000±24Hour | 明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1% |
| 冷たく、熱衝撃 | IEC60068-2-14 |
-40℃~+125℃ T1:30minサイクル時間:1000
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明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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| ノックの実験 | IEC60068-2-77 |
加速:250m/s2脈拍の持続:6msノックの時間:1000の回復時間:2時間
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明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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| 低温の貯蔵 | IEC60068-2-1 |
臨時雇用者:40±2℃時間:1000±24Hour
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明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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| 塩スプレー | IEC60068-2-11 | 臨時雇用者:35±2℃コレクション時間:1.0mL~2.0mL時間:実際の要求としてごとに定めなさい |
明らかな損傷無し、R25△ R/R≤±1%
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