急速な変更の温度のテストはこの方法と熱衝撃のテストの最も大きい違いであるより少し指定します、または15°C/minuteのテストサンプル温度の変化率を。急速な変更の温度のテストが非常に反復可能な試験結果を達成するので、JEDEC （JESD 22-A104B）のような標準のコンプライアンス試験のために使用されます。

電子デバイスおよびサーキットボードの信頼性に影響を与える問題の進行中の上昇によって適された評価試験方法はより高い装置操作の温度のような問題に答えるために必要変わりますで、BGAおよびCSPのような方法を取付ける装置および無鉛はんだの使用でより大きい半導体の統合に起因します。

急速な変更の温度のテストはタイプの熱衝撃テストの失敗の反復性を改善するために開発される熱循環テストです。

特徴:

1の利用できる内部薬室容積:150L、225L、416L、800Lおよび1000L;

2、別の暖房および冷却率を前もって調整するため:5℃/min、10℃/min、15℃/min;

3つは、急速な変更の温度テスト、凝縮テスト、高温/湿気テスト、温度/湿気のループテスト、等を支えます。

4の完全な実時間カーブの表示;

5つは、限られなかった標準合わせます:MIL-STD-2164、MIL-344A-4-16、GJB-1032-90、GJB/Z34-5.1.6、等。

技術仕様:

モデル	臨時雇用者の範囲	内のり寸法（mm）	外部次元（mm）
QTH-150KB	-20℃~﹢150℃	500 x 600 x 500	800 x 1450 x 1120
QTH-225KB		500 x 750 x 600	800 x 1620 x 1320
QTH-416KB		700 x 850 x 700	980 x 1860 x 1600
QTH-800KB		1000 x 1000 x 800	1350 x 1980年x 1700
QTH-1000KB		1000 x 1000 x 1000	1350 x 1980年x 1800
QTH-150KC	-40℃~﹢150℃	500 x 600 x 500	800 x 1450 x 1120
QTH-225KC		500 x 750 x 600	800 x 1620 x 1320
QTH-416KC		700 x 850 x 700	980 x 1860 x 1600
QTH-800KC		1000 x 1000 x 800	1350 x 1980年x 1700
QTH-1000KC		1000 x 1000 x 1000	1350 x 1980年x 1800
QTH-150KD	-70℃~﹢150℃	500 x 600 x 500	800 x 1450 x 1120
QTH-225KD		500 x 750 x 600	800 x 1620 x 1320
QTH-416KD		700 x 850 x 700	980 x 1860 x 1600
QTH-800KD		1000 x 1000 x 800	1350 x 1980年x 1700
QTH-1000KD		1000 x 1000 x 1000	1350 x 1980年x 1800
温度の変動	±0.5℃
温度の均等性	±2.0℃
熱する/冷却率	3℃/min、5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min （任意）
温度斜面	直線性か平均
制御システム	大きいLCDのタッチ画面のコントローラー、データは直接表示することができます
内部材料	SUS#304ステンレス鋼
外材料	冷間圧延された鋼板の粉のベーキングペンキ
絶縁材	堅いウレタンフォーム
冷却モード	1の冷却装置（長期高周波テストのために消耗品、適した無し） 2の冷却の液体窒素の援助（液体窒素は短く、低頻度テストに使用する材料です）
安全装置	電気漏出保護、短絡の保護、過熱保護、水不足の保護は、焼跡の保護スイッチ警報装置を乾燥します
電源	AC220/380V、50/60HZ、
ノート	1つは、性能の価値試験区域の中の標本ではないです。 2、20ºC周囲温度で、相対湿度65%RHの評価される電圧

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