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試験および特徴付けにおける応用: DCバイアス電流源は,トランジスタ,ダイオード,集積回路 (IC)特定のバイアス条件下でデバイスの動作を評価し,加益,線形性,漏れ電流,限界電圧などのパラメータの測定を容易にする.さらに測定装置の校正に使用され,正確な結果と追跡が保証されます.
10.1インチ容量タッチスクリーン,解像度1280*800,Linuxシステム
デュアルCPUアーキテクチャ,LCR機能のテスト速度は0.56ms
3つの試験方法:スポットテスト,リストスキャン,グラフィックスキャン (オプション)
4つの寄生物パラメータ (Ciss,Coss,Crss,Rg) を測定し,同じ画面に表示する.
CV曲線スキャン,Ciss-Rg曲線スキャン
統合設計:LCR + VGS低電圧源 + VDS高電圧源 + チャンネル切り替え + PC
標準 2 チャネルテスト,同時に2つのデバイスまたはデュアルチップデバイスをテストすることができます,チャネルは6に拡大することができます,チャネルパラメータは別々に保存されます
快速充電,コンデンサータ充電時間を短縮し,高速テストを可能にします
自動遅延設定
高バイアス:VGS:0 - ±40V,VDS:0 - 200V/1500V/3000V
10 箱の分類
半導体部品/電源部品
ダイオード,トリオード,MOSFET,IGBT,タイリスター,集積回路,光電子チップ等における寄生容量試験とC-V特性分析
半導体材料
ワッファー,C-V特性分析
液晶材料
弾性定数分析
容量要素
コンデンサータのC-V特性試験と分析,容量センサー試験と分析
| モデル | TH511 | TH512 | TH513 | ||||
| チャンネル | 2 (4/6 Ch オプション) | 2 | |||||
| ディスプレイ | ディスプレイ | 10. 1インチ容量タッチスクリーン | |||||
| 割合 | 0.672916667 | ||||||
| 決議 | 1280*RGB*800 | ||||||
| テストパラメータ | Ciss,Coss,Crs,Rg.任意に選択できる4つのパラメータ | ||||||
| 試験頻度 | 範囲 | 1kHz-2MHz | |||||
| 精度 | 0.0001 | ||||||
| 決議 | 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 100mHz10.0000kHz-99.9999kHz | |||||||
| 1Hz100,000kHz-999.999kHz | |||||||
| 10Hz1.00000MHz-2.00000MHz | |||||||
| テストレベル | 電圧範囲 | 5mVrms-2Vrms | |||||
| 精度 | ± (10%*設定値+2mV) | ||||||
| 決議 | 1mVrms5mVrms-1Vrms | ||||||
| 10mVrms1Vrms2Vrms | |||||||
| VGS | 範囲 | 0 - ±40V | |||||
| 精度 | 1%* 設定電圧+8mV | ||||||
| 決議 | 1mV0V - ±10V | ||||||
| 10mV10V - ±40V | |||||||
| Vds | 範囲 | 0〜200V | 0〜1500V | 0~3000V | |||
| 精度 | 1%* 設定電圧+100mV | ||||||
| 出力インペデンス | 100, ±2%@1kHz | ||||||
| 計算 | 絶対値の偏差,指数値の%の偏差 | ||||||
| カリブレーション機能 | オープン,ショート,ロード | ||||||
| 平均値 | 1~255回 | ||||||
| AD変換時間 (ms/時間) | スピード:0.56ms (>5kHz), スピード:3.3ms, ミディアム:90ms, スロー:220ms | ||||||
| 基本 的 精度 | 0.001 | ||||||