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精密な巻き込み分析:巻き込みテストは,抵抗,誘導,容量,阻力,回転比を含む巻き込み特性の精密な分析を提供するように設計されています.巻き込みの任意の偏差や異常を識別するのに役立ちます.
総合的なテスト能力: ワイリングテストは,直流抵抗測定,インダクタンス測定,高電圧耐性試験,断熱耐性試験この方法により,巻き物の性能を徹底的に評価できます.
試験速度は 1800 倍/s (> 10kHz) に達し,リレーの動作時間なし
20Vrmsまで試験レベル
偏差電圧は内蔵されている ±40V/±100mA/2A
最大288の試験ピン (TH2840NXのみ)
業界に優しいユーザー体験: Linux の底層,内蔵のヘルプファイル
10.1インチ 1280×800 容量感触画面
ワイヤリングが問題にならないように,グラフィックピンアソシエーション設定ページ
Lk設定は,より直感的な漏れインダクタンスピンを入力する必要はありません
バランススキャン機能が強化され,5ポイントから10ポイント
範囲切り替えは電子スイッチを採用します 速い速度,長い寿命,騒音なし
選択可能なLCR機能
約100Mの設定ファイルストレージスペースと巨大なUディスク設定ファイルストレージ容量
互換性を確保するために初期モデルファイル形式の変換をサポートするホストコンピュータを提供
トランスフォーマースキャニングテスト 詳細な特性分析
ネットワークトランスフォーマースキャン試験,包括的な特性分析
離散パッシブコンポーネント (L,R,C) の多チャンネルスキャン試験
リレー駆動線 パッケージ,接触抵抗多チャンネルスキャン試験
多チャンネル直流抵抗DCRスキャン試験
インペデンスネットワークにおける複数の受動部品の総合試験分析
| モデル | TH2840AX | TH2840BX | TH2840NX | |
| ディスプレイ | ディスプレイ | 10.1" 感触画面 | ||
| 割合 | 16:09 | |||
| 決議 | 1280×RGB×800 | |||
| テストPIN番号 | 20PIN ((TH1806によって) | |||