JINSP Company Ltd.

JINSP Company Limitedはスペクトル検出技術製品開発と製造で17年以上の経験を持つプロのサプライヤーです.

Manufacturer from China
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オーダーメイド波長範囲の光学解像度OCTスペクトロメーター

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シティ:beijing
省/州:beijing
国/地域:china
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オーダーメイド波長範囲の光学解像度OCTスペクトロメーター

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モデル番号 :ST830E
産地 :中国
最低注文量 :1
支払条件 :T/T,ウェスタン・ユニオン
供給能力 :10個/月
配達時間 :80~90 営業日
パッケージの詳細 :カートン梱包
効果的なピクセル :2048
線を掃く最大速度 :130kHz/250kHz
VPH格子 :高効率で光学解像度が差差差に近い
細胞の大きさ :10*200um
干渉スペクトル処理 :波数再サンプリングアルゴリズムなしの直接FT
波長範囲 :790~930nmの範囲でカスタマイズ
感光性区域 :20.52*0.2mm
光学設計 :VPH ラスターと波の線形設計
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カスタマイズされた波長範囲を持つ光学分解能OCT分光計
主な仕様
有効画素数 2048
最大ラインスキャン速度 130kHz/250kHz
VPHグレーティング 回折限界に近い光学分解能を持つ高効率
セルサイズ 10*200um
干渉スペクトル処理 波数リサンプリングアルゴリズムなしの直接FFT
波長範囲 790-930nmの範囲でカスタマイズ
感光領域 20.52*0.2mm
光学設計 VPHラスタ&ウェーブリッジリニア設計
製品概要

当社の高性能OCT分光計は、特殊な光路設計を特徴とし、波数のハードウェアベースの等間隔サンプリングを可能にし、医療画像処理などの高解像度アプリケーション向けに正確なデータキャプチャを保証します。

オーダーメイド波長範囲の光学解像度OCTスペクトロメーター

JINSP ST830E分光計は、光干渉断層撮影法(OCT)アプリケーション向けに優れた光学性能を提供し、以下を特徴としています。

  • VPHラスタ&ウェーブリッジリニア光学設計
  • 微細なディテールをキャプチャするための10*200umセルサイズ
  • ハードウェアベースの等間隔波数サンプリング
  • 波数リサンプリングなしの直接FFT処理
オーダーメイド波長範囲の光学解像度OCTスペクトロメーター
技術的パラメータ
製品名 スペクトルドメインOCTシステム用高速高感度OCT分光計
光学分解能 0.07nm
入射光インターフェース FC/APC光ファイバーインターフェース
検出器 ラインアレイCMOS
オーダーメイド波長範囲の光学解像度OCTスペクトロメーター
サポートとサービス

当社は、OCT分光計の包括的なサポートを提供しています。これには以下が含まれます。

  • 設置とセットアップの支援
  • トレーニングと教育プログラム
  • 校正とメンテナンスサービス
  • ソフトウェアとファームウェアのアップデート
  • 技術的な相談とサポート
製品情報
ブランド:

JINSP (モデル ST830E)

製造元:

中国

最小注文数量:

1ユニット

納期:

80〜90営業日

梱包:

分光計ユニット、USBケーブル、ユーザーマニュアル、保護キャリングケースを含むカートン梱包

月間生産能力:

10ユニット/月

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