温度調整された電池の短絡のテスター この装置はいろいろな電池の短絡テスト標準的な条件を統合し、標準的な短絡装置の条件に従う設計は、80 +/- 20のm Ωへの内部抵抗の規模に合致しなければならない従って最高の短絡現在のテスト条件を得てもいい。 1. 製品名:温度調整された電池.........
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ICの集積回路QM33120WTR13の無線電信及びRFの集積回路 指定...
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集積回路TMS320F28377DPTPT元のICの破片 製品仕様書 項目 価値 製造業者部品番号 TMS320F28377DPTPT...
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ツール回路ペンプローブ12V6VDC電圧導通テスター車の診断ツール電気テスター 特徴: * DC 6V / 12V回路電圧テスターは、交通または輸送機械の低張力回路の障害を検出するために使用できます。 * 6Vおよび12V電気システム用の高品質回路テスターを使用して、電力、接地を検出し、ワイヤーの短......
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BCM56846A1KFRBG BROADCOMELECTRONICの集積回路の製品タイプイーサネットIC 1.feature •非常に統合される、ノンブロッキング65ナノメーター(nm)プロセス統合する5港10/100/1000スイッチ ケイ素:•5 10/100/1000 PHY.........
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IC元および新しい単一/集積回路T6963CFG CMOS DIGITALの集積回路のケイ素 Discription: T6963CFGはLCD制御運転者LSIsおよびデータ表示の記憶と使用されるように設計されているLCDのコントローラーです。装置は8−bit平行のデータ・バスそして.........
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保証のためのSTM32家族の集積回路の破片STM32F207ZET6 MCUの破片 512 Kバイトとの高性能腕皮質M3 MCUは、120のMHz CPUの芸術の加速装置、イーサネット点滅します 記述: STM32F20x家族は120までのMHzの頻度で作動する高性能腕の® Cor.........
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EPM1270F256I5N IC CPLD 980MC 6.2NS 256FBGA Intel プロダクト細部 記述:EPM1270F256I5NはAlteraの集積回路(フラッシュ・メモリのタイプに基づいてIC) CPLDs (複合体のプログラム可能な論理回路)である。それ.........
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TLV320AIC3000IRGZR,テキサス機器から,半導体集積回路 - ICsです.what我々は提供しています グローバル市場で競争力のある価格,オリジナルと新しい部品で.商品についてもっと知りたいか 価格を低くしたいかオンラインチャットでご連絡ください!.........
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集積回路の破片VNH5180ATR-E STMicroelectronics AC/DCのコンバーターの制御回路 製品の説明 部品番号VNH5180ATR-EはSTMによって製造され、Stjkによって配られる。電子プロダクトの一流のディストリビューターの1人として、私達は世界の上の製.........
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アナログADATE207BBPZ ICタイムフォーマット QUAD 256BGA 新しいオリジナルの統合回路ICチップ 100% 新品 オリジナル 配達時間: 2-4 営業日 製品写真 詳細については,メールでご連絡ください: sales@bluetotech.com .........
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BCR420UW6-7集積回路ICの破片1チャネル10mAの供給の現在の40V入れられた電圧25kHz頻度- + 150 Cへの55 C シリーズ: BCR420 様式の取付け: SMD/SMT パッケージ/場合: SOT-.........
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YSL-816II サーキット内試験器 概要 オンラインテストの新世代です 全体の製品構造,運用安全,テストの多様性,システムインテリジェンスに関してアップグレードされ最適化されました. 特徴 1指示はスクリーン結果と同期されます.2. 安全ライトカーテンを装備 3折りたたみドア,より便.........
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温度調整された外的な短絡のテスターの電池の試験装置 標準 それはIEC62133節に合致します7.3.2、8.3.1、8.3.2 IEC60086-4節6.5.1 IEC60086-4節6.5.8 6.5.9、IEC 60086-1、IEC61951、IEC61960、UN38.3、.........
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導かれた軽工業の集積回路板そして適用 序文:LED PCBは何であるか。 LED PCBはそれらが多くの熱エネルギーを作り出すので特にLED回路のためになされるプリント基板である。LED PCBsは金属ベースのMCPCBSであり、よい熱伝導性がある基質はアルミニウムであ.........
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電池の温度調整されたタイプ外的な短絡のテスター30のmΩ 従った標準及び節 IECの62619:2017節7.2.1 電気自動車の使用の安全電池のためのUL2580電池はB2.7およびD3.1を付け加える IEC 62133-2012clause 7.3.2 GB312.........
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2N7002P andnbsp; 2N7002P...
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3204の3205のICの集積回路が付いている無線USB 3.2Vの光学マウスの破片 ICの製品名:光学無線マウスの破片破片プロダクト モデル:GZ-P001-KA8集積回路の製品の説明:KA8は3205そして3204の元の段階の破片を取り替えることができる、およびより多くの高度の製造技術を.........
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