製品の説明: 基本型原子間力顕微鏡(AFM)は、高度でありながら使いやすいAFM装置を求める研究室向けに特別に設計された、非常に汎用性の高い信頼性の高い走査型プローブ顕微鏡です。このモデルは、材料表面の特性評価のための包括的な機能を提供し、研究者や科学者がナノスケールで詳細な地形情報と機械的情.........
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