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高精度スキャン探査機顕微鏡 0.15 nm解像度 製品説明: 原子力顕微鏡 (Atomic Force Microscope,AFM) は,ナノメートルの解像度での表面分析に例外的な能力を提供する最先端の機器です.スキャン範囲は100μm × 100μm × 10μmで,このAFM製品では,最大........
Time : Feb,10,2026
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