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DT650WK 単軸温度制御 MEMS ギロスコップ 試験回盤
製品説明
DT650WK回転台は,MEMS回転鏡の温度特性を試験するために特別に設計された高精度機器である.広範囲の温度範囲で作業環境をシミュレートし,正確な速度制御と協力して,ジロスコップのパフォーマンスを包括的に評価することができます. ターンテーブルは,始動時のゼロバイアステストと,恒常および変動温度条件下でバイアス測定をサポートし,モダル共鳴周波数を正確にキャプチャします.温度変化による質因子と誤差の変動パターン内部温度制御システムと回転台の同期リンクを通じて,補償効果を迅速に確認できる異なる温度での偏差安定指数と,温度周波数特性曲線を含む包括的な試験報告が出力できます.バイアス・リペラビリティやその他のデータも生成できますMEMSジロスコップの環境適応性最適化効率を大幅に向上させる.
製品パラメータ
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仕様 |
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1 |
負荷重量 |
30kg |
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2 |
テーブル直径 |
フ650mm |
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3 |
表の平らさ |
0.02mm |
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4 |
テーブルランナウト |
0.02mm |
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5 |
軸の回転精度 |
±2′′ |
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6 |
位置位置の誤り |
±3′′ |
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7 |
位置位置の重複性 |
±2′′ |
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8 |
料金範囲 |
±0.0001°/s~±1000°/s |
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9
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速度の正確さ
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ω≤1°/s 2×10−3 (平均)) |
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1°/s≤ω<10°/s 2×10-4 (10°平均) |
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ω≥10°/s 2×10−5 (360°平均) |
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10 |
最大角加速 |
≥300°/s2 |
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11 |
ユーザー スリップリング |
カスタマイズ可能 |
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12 |
温度範囲 |
-55°C~+85°C |
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13 |
温度エラー |
±1°C |
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14 |
温度変動 |
±1°C |
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15 |
温度均一性 |
±2°C |
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16 |
熱・冷却の最大速さ |
≥3°C/分 |
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17 |
箱 の 中 の 寸法 |
750mm × 750mm × 900mm |
