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3 年
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NSG 3040
スマート 4KV ソリューション フォース アプリケーション
Teseqの新しいNSG3040は使用しやすい多機能発電機最新のIEC/EN規格を含む国際,国家,製造者標準に従って免疫性試験のための電磁気干渉効果をシミュレートする.
NSG 3040システムは,CEマークの試験のために実施されたEMC試験要件を満たすために設計されています.組み合わせ波突発 (4.4 kV),電気快速臨時 (EFT) パルス (4.8 kV),電力品質試験 (PQT) を含む.拡張機能により,Telecom Surge 10/700と磁場テストを含む,より幅広いアプリケーションに設定できます..
革新的なモジュール式設計NSG 3040は,基本的なテストニーズに合わせて構成され,洗練されたテストラボのニーズを満たすために拡張できる汎用的なシステムです.
Teseqの実証された"マスター・スレーブ"アーキテクチャにより,個々のパルスモジュールは別々に校正され,校正データと訂正因子はスレーブコントローラに格納される.新しいモジュールは,校正のためにシステム全体を返却する必要なく簡単にインストールすることができます.
NSG 3040 は,高品質の7インチ大型色付タッチスクリーンNSG 3040の制御は簡単である.要求に応じて,組み込まれたキーボードは,入力または感度調整のための追加のキーを備えたホイールの使用をサポート.各パラメータの値は明確ですそして,すべての設定は,迅速に選択して変更することができますと大きなタッチ入力ボタンランプ機能はスタイラスなしで迅速かつ簡単にプログラムできます.
マルチステップテスト手順を作成し,それらのシーケンスまたはパラメータ値を簡単に変更することができます.簡単にアクセスできるSDメモリーカードリーダーユーザが指定したテストは完全に保存されます.
NSG 3040には外部PC制御用のイーサネットポートがあります.
組み合わせ波パルス 1, 2/50 8/20 μs (ハイブリッド・サーージパルス)
パルス IEC/EN 61000-4-5 に適合する
| パラメータ | 価値 |
|---|---|
| パルス電圧 (オープン回路) | ±200Vから4.4kV (1Vのステップ) |
| パルス電流 (短回路) | ±100Aから2.2kA |
| 阻力 | 2/12 O |
| 極性 | ポジティブ / ネガティブ / 代替 |
| パルス重複 | 10秒から600秒まで (1秒のステップ) |
| 試験期間 | 1から999インパルス,連続 |
| 段階同期 | アシンクロン,シンクロン 0~359° (1oステップ) |
| 結合 | 外部 / 内部 |
爆発 (EFT) 5/50 ns
パルス IEC/EN 61000-4-4 に適合する
| パラメータ | 価値 |
|---|---|
| パルス振幅 | ±200Vから4.8kV (1Vステップで) オープン回路 ±100Vから2.4kV (50Oマッチングシステム) |
| 爆発頻度 | 100 Hz から 1000 kHz |
| 極性 | ポジティブ / ネガティブ / 代替 |
| 繰り返しの時間 | 1msから4200s (70分) |
| 爆発時間 | 1μsから1999s,単パルス,連続 |
| 試験期間 | 1秒から1000時間 |
| 段階同期 | アシンクロン,シンクロン 0~359° (1oステップ) |
| 結合 | 外部 / 内部 |
沈み,中断,変化
IEC/EN 61000-4-11 に準拠する
| パラメータ | 価値 |
|---|---|
| 沈み,中断,変化 | EUT 入力電圧から0V,0% |
| 選択可能な変数を持つ卵巣 | モデルによって (VAR 3005) |
| ステップトランスフォーマー付きのUvar | 0, 40, 70, 80% (INA 650x) |
| 突入電流のピーク能力 | 500A (230V) |
| 切り替え時間 | 1〜5 μs (100 O の負荷) |
| イベント時間 | 20μs から 1999s, 1 から 300 サイクルまたは 1 から 3 〜 1000 1/10 サイクル |
| 試験期間 | 1秒から70万分, 1から99万999回の連続 |
| 繰り返しの時間 | 40μsから35分, 1~9999サイクル |
| 段階同期 | アシンクロン,シンクロン 0~359° (1oステップ) |
NSG 3040 - CEアプリケーションのためのスマート4kVソリューション