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NYSP-Z23 Rfのアドミタンスのレベルのメートル
NYSP-Z23 Rfのアドミタンスはより信頼できる、より広くより正確および適当の容量性から開発される新しいレベル コントロールの技術である。それは容量性水平な技術の改善である。いわゆるrfのアドミタンスは抵抗部品、容量性部品および知覚の部品で構成される電気のインピーダンスの相互を意味する。Rfは高周波無線周波スペクトルである、従ってrfのアドミタンスは高周波電波とのアドミタンスの測定として理解することができる。器械が働いている時、器械の形態のセンサー散水の壁および測定された媒体のアドミタンスの価値。目的のレベルの変更、それに応じてアドミタンスの価値変更時。回路の単位は目的のレベル信号の出力に目的のレベルの測定を実現するために測定されたアドミタンスの価値を変える。
Rfのアドミタンスのレベルのメートルの技術的な変数
適用 | パワー インターフェイス、強い混合の機会 |
調査のタイプ | 堅い絶縁の棒 |
測定範囲 | 0~6m |
プロセス温度 | -40~150℃ |
周囲温度 | -40 ℃ | + 70 ℃ |
保管温度 | -20 ℃ | + 65 ℃ |
プロセス圧力 | -0.1~2.5MPa |
電源 | (13-35) vDC |
信号の出力 | 4… 20mA/HART/RS485/Modbus… |
プロセス関係 | 糸/フランジ(選択的な) |
保護クラス | IP67 |
耐圧防爆等級 | ExiaCT6Ⅱ (選択的な) |
遅れ: | 0 |調節可能な30 s |
※のノート:プロダクトはユーザーの特定の条件に従ってカスタマイズすることができる!
Rfのアドミタンスのレベルのメートルの運営原則
レベルの上昇、物質的なカバーされた調査、調査と中型間の(伝導性材料)または調査と管の壁キャパシタンス(絶縁材)増加間のキャパシタンス回路の価値と従来の容量性物質的なレベルのメートル。水平な不均衡の変更が原因でキャパシタンス橋に導いた、従ってキャパシタンス価値の変更はテストされる材料の比誘電率によって決まる。それから信号検出、拡大および最終的に対応する信号の出力に。しかし容量性物質的なレベルのメートルはそこに特に調査が真剣に影響を与える測定の結果に掛かっているとき、ある不利な点である。
無線周波数のアドミタンスの測定の技術は水平な測定の技術持っている独特な利点をである。キャパシタンス測定の技術の一般的な概念と類似していて下さい、しかし電子単位のrfのアドミタンスの技術が運転を結合したが-盾および切り刻む回路は、こうして単独でインピーダンスおよび容量性リアクタンスの測定を実現できる。物理学の法則の計算によって、どの材料でもインピーダンスの容量性リアクタンスのサイズと等しい、従って掛かることによって測定することができ、phase-shifting振動回路の影響は合計出力から、取除く。
調査の水平な変更を通してタンクのローディングに、取付けられているRfのアドミタンスのレベルのメートル センサーによりrf信号の変更によって引き起こした。運転する-調査の端の盾は保障する器械の測定の正確さをループを掛けることによって形作られる無線周波数の流れを防ぐことができる。
高精度の測定の結果のRfのアドミタンスの技術は掛かる調査によって、である現在測定の技術最も広く利用された機会影響されないし。低温へのから100 ℃、真空から6.3 MPa圧力状態に、超短距離からの大規模に高温800 ℃への正常な適用はでき、異なったタイプの材料に適用することができる。
Rfのアドミタンスのレベルのメートルの設計特微
◎独特な運転-盾の回路設計は掛かることを抵抗する機能を改善できる
◎酸欠海域の測定は、10また更に少数のcmのレベルの測定の機会以上のに適用することができない
◎安定したのの出力および信頼できる、水蒸気消す、フライ アッシュ結晶化、ワックス
◎クリーニングおよび維持のない活動、容易なすり切れた部分無し、頻繁に、ダバッギング