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12 年
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フラッシュ・メモリの破片の理性的な試験制度
製品の説明:
製品仕様書:
技術仕様:
| 物理的性質 | |
| 装置のサイズ | W400×H510×D520mm |
| 電源方法 | AC |
| 作動の電圧範囲 | AC （220±10%） V単相2ワイヤー+保護地球 |
| 正常な働くパワー消費量 | 2KW |
| 実用温度範囲 | -30ºC~150ºC |
| 保管温度の範囲 | -20ºC~60ºC |
| 作動の湿気範囲 | 45%~75% |
| システム パフォーマンス | |
| 並行してテストすることができる粒子の数 | 1~8 PC |
| テストのための支えられた抜け目がないブランド | ミクロンからのSLC、MLC、TLC、サンディスク、等、Intel、YMTC、Hynix、東芝、サンディスク、等のQLCのタイプ否定論履積の抜け目がない破片粒子（範囲は拡張されている） |
| パッケージのサイズは支えた | BGA152、BGA132 （利用できる注文延長） |
| 支えられた抜け目がないプロトコル タイプ | ONFI/toggleインターフェイス粒子 |
| 支えられた電圧 | ハードウェア サポートV1.2、任意V1.8 |
| 支えられた電圧Pull-Off範囲 | ソフトウェア サポートは微調整されたvcc2.3~3.6である場合もある vccq1.2 1.15~1.25 vccq1.8 1.70~1.95 |
| 任意試験範囲を支える | 周期のスタート台、inter-block間隔、数、テスト時間、等の数のための個々の設定。 |
| サポート パターン | すべての0、すべての1、すべての5、擬似乱の、チェッカーボードの格子、任意語線等。 |
| テスト命令タイプのためのサポート | フラッシュ・メモリ情報点検 フラッシュ・メモリの性能試験 生命テストおよび予言 質のクラスの分類 データ干渉のテスト データ保持のテスト 読書再試行の機能性 寿命のテストおよび予言 ECCのカスタム化 |
| 平行テスト速度 | 長命のウェリントンの餌の基盤テストの一例として: 釣り合ったモード:128GB *8はおよそ1時間を小球形にする 完全なモード:128GB*8はおよそ2時間を小球形にする 高速モード:128GB*8はおよそ20分を小球形にする |
| 理性的なテスト モジュール | 基本的なテスト 実験テスト 高度テスト |
私達の会社の紹介:
HAIDAインターナショナルはさまざまな種類の24年にわたる試験装置の専門の製造業者である。HAIDAプロダクトは、インク印刷包む、すべての科学研究の単位、質の点検施設および学術分野にペーパー プロダクト粘着テープ、袋、履物、皮革製品、環境、おもちゃ、赤ん坊プロダクト、ハードウェア、電子プロダクト、プラスチック プロダクト、ゴム製 プロダクトおよび他の企業、および適当で広く利用されている。
