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単位の試験制度MUE1シリーズの併合
1. 信頼できる性能
2. スマートなサブステーション テストで広く利用された
3. ユーザー フレンドリー テスト ソフトウェア インターフェイス
4. 安定性が高く、正確さ
5. 高レベル実験室からの正確さのトレーサビリティ
6. IEC61850-9-1、IEC61850-9-2、IEC61850-9-2LEのIEC60044-FT3議定書と互換性がある
技術索引
| 正確さのクラス | 0.05 |
| 慣習的な電圧テスト | |
| 範囲 | 0-120Vの測定範囲100V、100/√3V |
| 調節可能な範囲及び正確さ | 20%-150%、0.05% |
| 慣習的な現在のテスト | |
| 範囲 | 0-20A、測定範囲5A及び1A |
| 調節可能な範囲及び正確さ | 1%-120% |
| 頻度テスト | |
| 範囲 | 45-65HZ |
| 正確さ | 0.002HZ |
| 入力パワーテスト正確さ | |
| アクティブな電源 | 0.05のクラス |
| 無効電力 | 0.1のクラス |
| 光ファイバーインターフェイス | |
| 1グループSTの光ファイバーインターフェイス | |
| 力の発送 | >-6dBm |
| 光学感受性を受け取りなさい | -38dBm |
| 同期信号 | |
| 光学同時性の入力及び出力 | 2Nos |
| 光学同時性IRIG-B （DC）の出力 | 1No |
| 同時性の出力時間正確さ | 100nsよりよい |
| 電源 | |
| 入れられた電圧 | AC220V±10%、50/60Hz |
| パワー消費量 | <20w> |
| 次元及び重量:360x400x160mm、7.5KGS | |
特徴
1) 3段階高精度な標準源を使用して、高精度なA/Dのデータ収集装置、同時性
タイム レコーダーの単位、AC見本抽出の基礎水準およびMUの試験ユニット
2) 操作モード: PCソフトウェアによって
3) 試しの技術上の高位同時性のアルゴリズムそして512timesを使用して
4) LabViewの言語および事実上の器械の技術の採用、操作のために友好的なHMIおよび便利
5) シミュレーション小さい信号の出力を使って
6) コレクションと単位をの併合することの正確さの間違いそしてタイミング及びコミュニケーション性能試験
デジタル マルチ チャネルかアナログ入力
7) 慣習的なVTおよびCTのコレクションのアナログ入力と単位を併合することの正確さの間違いテスト
8) デジタルCT/VTのデジタル入力と単位を併合することの精度診断
9) デジタルCT VTの正確さの間違いテストおよびアナログの価値の口径測定
10) メッセージの見本抽出の分散の程度テスト
11) メッセージの見本抽出の完全性テスト
12) 単位の併合の時間の比較間違いテスト
13) 単位の併合の間違いテストを保つ時間
14) 応答時間テストの見本抽出
15) 完全なフレーム メッセージの分析
