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ATE テスト,LED 電源 古いキャビネット検出装置のための包括的なテストシステム
ATE試験システムの主な機能には,次の側面が含まれます.
自動テスト:
様々なテストコンテンツのサポート:
バッチテスト:
データ分析と報告
誤り検知と早期警告
柔軟性と拡張性
互換性と普遍性
トップスマート 1100 モバイル電源試験システムの試験項目:
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入力試験 |
充電試験 |
| 入力電圧ランプ | 充電電流試験 |
| 入力周波数 ランプ | 完全充電試験 |
| ACサイクルを停止する | 慢速充電試験 |
| 入力電源の歪みモード | スローチャージID設定テスト |
| 入力RMS電流 | 充電試験中に放電 |
| 入力電源 | 電源表示試験 |
| 入力電力の因数 | シミュレーションバッテリー機能 |
| 入力ピーク電流試験 | 無線充電試験 |
| 出力試験 | タイミング/ダイナミックテスト |
| DC出力電圧 | オンする時間 |
| DC出力電流 | 昇る時間 |
| パワーアップシーケンス | 秋の時間 |
| 停電の順序 | 待機時間 |
| 追跡 | 特別試験 |
| 効率性試験 | LEDランプの電圧と状態試験 |
| 超電圧試験 | LEDの点滅周波数試験 |
| ピークピークの騒音 | スリープモード試験 |
| 安定性試験 | D+/D電圧試験 |
| 圧力の調節 | MCU通信と校正試験 |
| 現行規則 | 放出試験 |
| 混合効果試験 | GPIB 読み書き |
| 保護試験 | USB読み書き |
| 短回路試験 | RS232読み書き |
| OV保護 | TTL信号制御 |
| 紫外線保護 | リレー制御 |
| 充電保護試験 | 文字列コードスキャン |
| 放出保護試験 | 拡張測定機能 |
| 超電流保護試験 | |
| 速充電試験 (QC2に適用される)0QC3.0および他の高速充電試験) |
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