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プログラム可能な電子負荷は,電圧と電流の測定速度が40KHzまで
紹介:
TDL-6000シリーズの単チャンネルプログラム可能なDC電子負荷は,最大0.1mV/0.1mAの解像度で150Wから600Wの電力範囲を提供しています.バッテリー短時間およびその他の試験機能.主に電池,AC-DC/DC-DCモジュール,充電器,電子部品の性能試験に使用されます.設計研究開発と生産ライン試験に最適なソリューションを提供シリアルロードは,オプションでRS232/USB/RS485通信インターフェイスで装備され,強力な制御ソフトウェアを無料で提供されています.2次開発時間を節約し,テストプロセスを簡単にする.
特徴:
仕様表:
モデル | TDL-6015 | TDL-6030 | TDL-6030B | TDL-6030C | |
プロジェクト | 150W/120V/30A | 300W/120V/30A | 300W/500V /15A | 300W/120V/60A | |
CCモード | 範囲 | 0-3A,0-30A | 0-3A,0-30A | 0-3A,0-15A | 0-6A,0-60A |
決議 | 0.1mA,1mA | 0.1mA,1mA | 0.1mA,1mA | 0.1mA,1mA | |
精度 |
0.05%+0.1%FS 0.1%+0.1%FS |
0.05%+0.1%FS 0.1%+0.1%FS |
0.05%+0.1%FS 0.1%+0.1%FS |
0.1%+0.1%FS 0.15%+0.25%FS |
|
CRモード | 範囲 | 0.1-99Ω,100-4KΩ | 0.1-99Ω,100-4KΩ | 0.1-99Ω,100-4KΩ | 0.1-99Ω,100-4KΩ |
決議 | 0.01Ω,1Ω | 0.01Ω,1Ω | 0.01Ω,1Ω | 0.01Ω,1Ω | |
精度 |
1%+0.3%FS 1%+0.8%FS |
1%+3%FS 1%+0.8%FS |
1%+0.3%FS 1%+0.8%FS |
1%+0.3%FS 1%+0.8%FS |
|
CVモード | 範囲 | 0〜18V,0-120V | 0〜18V,0-120V | 0〜18V,0〜500V | 0〜18V,0-120V |
決議 | 1mV,10mV | 1mV,10mV | 1mV,10mV | 1mV,10mW | |
精度 |
0.05%+0.02%FS 0.05%+0.025%FS |
0.05%+0.02%FS 0.05%+0.025%FS |
0.05%+0.02%FS 0.05%+0.025%FS |
0.05%+0.02%FS 0.05%+0.025%FS |
|
CWモード | 範囲 | 0〜100W,100〜150W | 0〜100W,100〜300W | 0〜100W,100〜300W | 0〜100W,100〜300W |
決議 | 1mW,10mW | 1mW,10mW | 1mW,10mW | 1mW,10mW | |
精度 | 1%+0.1%FS | 1%+0.1%FS | 1%+0.1%FS | 1%+0.1%FS | |
圧力の測定 | 範囲 | 0〜18V,0-120V | 0.18V,0-120V | 0〜18V,0〜500V | 0〜18V,0-120V |
決議 | 1mV,10mV | 1mV,10mV | 1mV,10mV | 1Mv,10mV | |
精度 |
0.02%+0.02%FS 0.02%+0.025%FS |
0.02%+0.02%FS 0.02%+0.025%FS |
0.02%+0.02%FS 0.02%+0.025%FS |
0.02% + 0.02%FS 0.02%+0.025%FS |
|
電流測定 | 範囲 | 0-3A,0-30A | 0-3A,0-30A | 0-3A,0-15A | 0-6A,0-60A |
決議 | 0.1mA,1mA | 0.1mA,1mA | 0.1mA,1mA | 0.2mA,2mA | |
精度 |
00.1% + 0.1%FS 00.2%+0.15%FS |
0.1%+0.1%FS 00.2%+0.15%FS |
00.1% + 0.1%FS 0.2%+0.3%FS |
0.1%+0.2%FS 0.2%+0.5%FS |
|
短回路試験 | 短回路電流 | ≈30A | ≈30A | ≈15A | ≈60A |
内部抵抗 | ≈40mΩ | ≈40mΩ | ≈250mΩ | ≈30mΩ | |
環境温度 | 動作モード | 0〜40°C | 0〜40°C | 0〜40°C | 0〜40°C |
バッテリー試験機能 | 容量 | マックス 999AH | MAX999AH | マックス 999AH | マックス 999AH |
ダイナミックテストモード | 試験率 | 0.1Hz - 1KHz | 1. 1HZ-1KHZ | 0.1Hz - 1KHz | 0.1Hz - 1KHz |