SINO年齢の開発の技術、株式会社。

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Manufacturer from China
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Hartip3210デジタル携帯用Leebの硬度のテスター25000データ記憶1年の保証

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Hartip3210デジタル携帯用Leebの硬度のテスター25000データ記憶1年の保証

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型式番号 :HARTIP3210
原産地 :中国製
最低順序量 :1 PC
支払の言葉 :ウェスタン・ユニオン、T/T
受渡し時間 :前金に3日
包装の細部 :堅い携帯用ケース
表示 :ピクセル320 x 240とのTFTの大きい色LCD
硬度のスケール :HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/HRA/ΣB
言語 :選択のための10言語
正確さ :+/-2 HLD
記憶 :25000データ
保証 :1年
証明書 :セリウムSGS ISO9001
標準 :ASTM A956に従って、DIN 50156、GB/T 17394-1998
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Hartip3210 Leebケーブルの両方調査および無線調査と装備することができる携帯用デジタルの硬度のテスター

製品の説明


HARTIP 3210は先端技術および特徴が付いているLeebの硬度のテスターの新しい世代である。
テスターはテスターを古い前のモデルより正確にさせる私達の新しいパテントの技術を適用する。すべてのimpatct装置(調査)は影響の方向をセットアップする必要性ではない。HARTIP 3210は類似の両方影響装置および無線RFの調査を使用できる。
測定の価値は無線電信またはケーブルによってPCおよびプリンターにダウンロードすることができる。
 
HARTIP 3210はまたPCケーブルによって電池なしでUSBの電源によって動力を与えることができる。
 利点:
 
互換性がある無線デジタル/ケーブルのアナログ
別の影響の方向をセットアップする必要性無し
で高精度+/-2 HLD
ピクセル320 x 240とのTFTの大きい色LCD
日光の下でfittable多色様式-
多表示モード-統計量、棒グラフ、等。
データのための多保管モード
多統計量の計算
スクリーン コピー プリントアウト オンラインで印刷すれば
健全なメモ
 実質の日時
統一されるか、または個々のスケールのためのRecalibration
オペレータ、部品番号、プロシージャNOの記録
 
指定:
 

SADT HARTIP 3210
主義 Leebの硬度の測定
正確さ ±0.3% @ HL=800の反復性:±2HL
表示 日光の下でfittable 2.8" 320 x 240 TFT色LCD -
硬度のスケール HL/HRC/HRB/HB/HV/HS/HRA/ΣB
測定範囲  
HL170-960/HRC1.3-78.2/HRB1.2-139.7/HB28-1027/HV45-1221/HS4.0-112.1/HRA1.3-88.5/σb (RM) 118-3315N/mm2

影響装置
 
r/fの無線調査D/標準的なケーブルの調査D
DC/D+15/C/G/E/DL (任意)

r/fコミュニケーション間隔
スペースの10m
r/fの頻度 2.4GHz
影響の方向 普遍的な角度のタイプ
材料およびカーブ 11の共通の金属材料、60の転換のカーブ
記憶 25000データ
統計量  
単一のグループの分析--中間、最高。、尖度の最少、極度な偏差、標準偏差、係数、ひずみの係数、パスのパーセント、柱状図表、正常の配分テストおよびユニフォームの配分テスト
二重グループの分析--パスの平均、標準偏差、パーセントおよび配分のための重要な相違テスト

Re-calibration
統一されるか、または個々のスケールのための口径測定
表示器 上限/低限/低い電池/ブザーの警告/日時
通信用インタフェース 2.4G無線電信/USB/RS232/Bluetooth (任意)
連続的な作業時間 >40時間
電源 1.5V AAのアルカリ電池Xの4/1.2Vニッケル水素rechargerable電池x 4/3.7VLiイオンの充電電池X 4/USBの電源
労働環境  
-10°c~+45°c

次元(mm)
195 x 84 x 38
純重量(g) 550
標準 ASTM A956に従って、DIN 50156、GB/T 17394-1998

 

 
Hartip3210デジタル携帯用Leebの硬度のテスター25000データ記憶1年の保証Hartip3210デジタル携帯用Leebの硬度のテスター25000データ記憶1年の保証
Hartip3210デジタル携帯用Leebの硬度のテスター25000データ記憶1年の保証

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