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影響装置のための影響の装置/調査
Leebの硬度のテスター
さまざまな影響装置はアナログの影響装置、デジタル影響装置、無線影響装置、普遍的な影響装置を含み、独特な読む調査、テスターをすべての金属の硬度をテストするために適したようにするLeebの硬度のテスターのために設計されている。それらは力、petro化学、エア スペース、車、機械の企業で等広く利用されている。
指定
| 影響装置（調査） | 記述 |
| D | 硬度のテストの割り当ての大半のための普遍的な標準単位。 |
| DC | 非常に短い影響装置、タイプD.と同一の他のspecs。 |
| 適用: | 非常に狭い場所。 |
| 穴およびシリンダー。 | |
| 組み立てられた機械の内部測定 | |
| D+15 | 細い前部 |
| 適用: | 溝および引込められた表面 |
| DL | 非常に細い前部。 |
| 適用: | 非常に狭い場所 |
| 溝の基盤 | |
| C | 減らされた影響エネルギー（タイプD）と比較される |
|
適用:
|
表面の堅くされた部品、コーティング |
| 最低の層の厚さ:0.2mm | |
| 薄い-囲まれたまたは影響の敏感な部品（小さい測定の刻み目） | |
| E | 総合的なダイヤモンド テスト先端（approx.5000 HV） |
| 適用: | 高炭素の鋼鉄1200までHVのような非常に高い硬度の測定 |
| G | 拡大されたテスト先端、高められた影響エネルギー（およそ9回タイプD）の |
| 適用: | Brinell硬度の範囲だけ |
| 表面の終わりのより低い要求を用いる重い鋳造物そして造られた部分 |
さまざまな記号の記号の意味の意味
影響装置Dによって得られるLeebの硬度の価値 HLD
影響装置DCと得られるLeebの硬度の価値 HLDC
影響装置Gによって得られるLeebの硬度の価値 HLG
影響装置Cによって得られるLeebの硬度の価値 HLC
影響装置D+15によって得られるLeebの硬度の価値 HLD+15
影響装置Eによって得られるLeebの硬度の価値 HLE
影響装置DLによって得られるLeebの硬度の価値 HLDL
