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影響装置のための影響の装置/調査
Leebの硬度のテスター
さまざまな影響装置はアナログの影響装置、デジタル影響装置、無線影響装置、普遍的な影響装置を含み、独特な読書調査、テスターをすべての金属の硬度をテストするために適したようにするLeebの硬度のテスターのために設計されています。それらは力、petro化学、エア スペース、車の企業で広く利用されています、等機械で造ります。
指定
| 影響装置（調査） | 記述 |
| D | 硬度のテストの割り当ての大半のための普遍的な標準単位。 |
| DC | 非常に短い影響装置、タイプD.と同一の他のspecs。 |
| 適用: | 非常に限られたスペース。 |
| 穴およびシリンダー。 | |
| 組み立てられた機械の内部測定 | |
| D+15 | 細い前部 |
| 適用: | 溝および引込められた表面 |
| DL | 非常に細い前部。 |
| 適用: | 非常に限られたスペース |
| 溝の基盤 | |
| C | 減らされた影響エネルギー（タイプD）と比較される |
|
適用:
|
表面によって堅くされる部品、コーティング |
| 最低の層の厚さ:0.2mm | |
| 薄くして下さい-囲まれたまたは影響の敏感な部品（小さい測定の刻み目） | |
| E | 総合的なダイヤモンド テスト先端（approx.5000 HV） |
| 適用: | 1200 HVまでの高炭素の鋼鉄のような非常に高い硬度の測定 |
| G | 拡大されたテスト先端、高められた影響エネルギー（およそ9回タイプD）の |
| 適用: | Brinell硬度の範囲だけ |
| 表面の終わりのより低い要求を用いる重い鋳造物そして造られた部分 |
影響装置
ケーブルが付いているアナログの影響装置
影響装置D
影響装置DC
影響装置D+15
影響装置DL
影響装置C
影響装置E
影響装置G
ケーブルが付いている普遍的な影響装置
影響装置D
影響装置DC
影響装置D+15
影響装置DL
影響装置C
影響装置E
影響装置G
ケーブルが付いているデジタル影響装置
影響装置D
無線影響装置
影響装置D
影響装置DC
影響装置D+15
影響装置DL
影響装置C
読書影響装置
RPの読書調査
