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11 年
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YSL-A410 自動光学検査装置 高精度オフライン AOI
製品 特徴
| ● 経済的で実用的な AOI |
| ● 高精度の検出プラットフォームの設計 |
| ● 迅速なプログラミング・デバッグ統合 |
| ● 上部と下部を自動的に認識する |
| ● プロフェッショナル の 製品 リスト |
| テクニカル テクニカル パラメーター | |||
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類 違う カテゴリー |
項 目 ポイント |
规格参数 仕様 |
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視力 識別 系 统 認識システム |
判別方法 検査 |
结合权值成像データ差異分析技術,色画像対比,色抜き分析技術,相似性,二値化 O C R / O C V 等 多 種 算法 综合 应 用 WDM,カラー画像コントラスト技術,カラー抽出技術,類似性2値処理技術,OCR/OCVなど |
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| カメラ | 彩色カメラ,分辨率:20微米 (可選15微米) カラーカメラ:20μm (光学用15μm) | ||
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光源 ランプハウス |
R G B 环 形 L E D 结 构 L E D 频 闪 光 源 リング RGB LEDフラッシュランプハウス | ||
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画像処理速度 画像処理 スピード |
0 2 0 1 元件 0201 チップ |
<10ms | |
| 每画面処理時間 Per-Image 時間 | <170ms | ||
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検査内容 検査項目 |
锡膏印刷 パストプリンティグ 欠陥 |
有无,偏斜,少锡多锡,断路,污染 線が合わさず 溢れ過ぎ 足らない 貼り付けが開いて 汚れ |
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零件欠陥 コンポーネントの欠陥 |
缺件,偏移,歪斜,立碑,侧立,翻件,极性反,错件,破損 欠落した,誤った,歪んだ,墓石,広告板,逆転した,反極性,誤った,損傷 |
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ポイント欠陥 溶接器の欠陥 |
锡多, 锡少, 连锡 過剰流出,不十分,短溶接,汚れ |
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防静電対策 アンチ静的対策 |
防静電插座,配防静電環 静止電源の出口 静止電源の花束 |
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機械システム メカニズム システム |
PCB サイズ PCB サイズ | 25×25mm - 480×330mm, (注文可制非标規格) サイズをカスタマイズすることができます | |
| 厚さ 厚さ 厚さ 厚さ | 0.5mm-5.0mm | ||
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P C B 曲 度 PCB ワープ 容量 |
±2mm | ||
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零件高度 部品のクリアランス |
トップ<28mm,BOT<75mm | ||
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最小部品 最小スペース部品 |
0201チップ ((15μm) | ||
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X,Y 平台 X,YPプラットフォーム |
駆動装置 運転手 | 交流伺服電機システム AC伺服システム | |
| 定位 精確な検診 | <10μm | ||
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移動速度 移動速度 |
700mm/s | ||
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ソフト システム |
操作システム 操作システム |
マイクロソフト Windows 7 | |
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識別制御システム 制御 B認識 |
特点 特徴 |
応用权值画像差異建模技術と独特の色抽出分析技術,学習OKサンプル,自動的に標準画像を確立 WDM,試験OKテンプレート,自動設定テンプレート画像,データ識別とエラー数値 |
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操作 オペレーション |
図形化プログラミング,自带元件庫,元件形状選択標準自動生成検定框,正確な自動位置付け,微米位微調, 制程快捷 グラフィック・プログラミングは チップライブラリと一緒で チップの形,位置,マイクロ・アジャスト, 簡単なプログラミングで 検査名声を得ます |
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マーク |
ポイント数 マーク数 |
選択可能 0~2つの常用マーク点 または複数のマーク点 使用 0-2マークが選択できます | |
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識別速度 速度 を 認識 する |
0.5s/PCs | ||
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制御系 総統制御 |
コンピュータ主機 パソコン | 工业制御コンピュータ,3CPU,4G DDR内存,1Tハードディスク CPU:Intelダブルコア,メモリ:4G,ハードディスク:1T | |
| 显示 表示 | 22インチ液晶広スクリーンディスプレイ 22インチTFT | ||
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其它参数 その他 |
装置外形サイズ 機械の寸法 (L×WxH) |
868×1033×1340mm | |
| 重量 体重 | ~310kg | ||
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電気源 電源供給 |
交流220伏特±10%,周波数50/60Hz,定功率600W AC220V±10%,単相 50/60HZ,消費電力 600W |
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使用環境 労働費 |
温度 1 0 - 4 0 °C,湿度 3 0 - 8 0 % R H 温度10-40°C,湿度30~80%RH |
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