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放射状の加鉛多層単一陶磁器のコンデンサーCT4 NPO X7R
記述:
陶磁器のコンデンサーは誘電体として陶磁器材料を使用します。製陶術はそれが知られていた絶縁体だったのでコンデンサーのproducionで使用されるべき最初の材料の1つでした。多くの幾何学は陶磁器の管状のコンデンサーおよびバリヤー層のコンデンサーのような一部が、サイズによる時代遅れの今日寄生効果または電気特徴である陶磁器のコンデンサーで使用されました。現代電子工学で最も頻繁に使用される陶磁器のコンデンサーのタイプは多層陶磁器のコンデンサー、さもなければ陶磁器の多層チップ・コンデンサ(MLCC)および陶磁器ディスク コンデンサーと示されてです。MLCCsは量の1年ごとのおよそ10000億装置の最も作り出されたコンデンサーです。それらはSMDの（表面取付けられる）技術でなされ、小型が広く利用された原因です。陶磁器のコンデンサーは通常1nFと1µF間の非常に小さいキャパシタンス価値と100µFまでの価値が可能であるが、普通なされます。陶磁器のコンデンサーはまた非常に小さく、低い最高によって評価される電圧があります。それらは分極されません、従ってAC源に安全に接続されるかもしれないことを意味します。陶磁器のコンデンサーに抵抗またはインダクタンスのような低い寄生効果による大きい周波数応答があります。
特徴:
• ミニチュア サイズ、自動配置のために利用できる広いキャパシタンス、テープおよび巻き枠の包装
•エポキシ樹脂によってコーティングは、優秀な湿気の抵抗をはんだ付けし、洗浄の間に損傷からpreventsbody作成し。
| T.C. | NPO/COG | X7R | Y5V | Z5U |
| 誘電性のタイプ | 安定したクラスのⅠの誘電体 | 安定したクラスのⅡの誘電体 | ||
| 電気特性 | 温度、電圧、頻度および時間への電気特性の僅かな依存を使って。 | 温度、電圧、頻度および時間によって特性の予想できる変更によって、この誘電体はferroelectric、クラスのⅠより高いキャパシタンス範囲を提供します。 | 温度およびテスト条件の特性の高いねじれの比誘電率そしてより大きい変化を使って、単位体積ごとの非常に高いキャパシタンス。 | |
| 適用 | 安定した性能を要求する回路の使用 | 、識別力がある要素をとばす連結妨げます使用。 | 店の力および記憶回路のようなとばし、連結の適用に適される。 | |
| キャパシタンス範囲 | 1pf---10nF | 100pf---5uF | 1nF---14.7uF | |
| 実用温度 |
0±30ppm/℃ -55℃~+125℃ |
±15% -55℃~+125℃ |
±30%~80% -25℃~+85℃ |
±22%~56% -10℃~+85℃ |
標準電気特性
| 項目 | 標準をテストして下さい | ||
| NPO | X7R | Z5U、Y5V | |
| キャパシタンス | 許容の中では | 許容の中では | 許容の中では |
| 誘電正接 | ≤0.15% | ≤3.5% |
≤5.0% （220nFの下で） ≤7.0% （220nF~470nF） |
| 絶縁抵抗 |
C≤10nF IR>10000MΩ; C>10nF R.C.>500ΩF |
C≤25nF IR>4000MΩ; C>25nF R.C.>100ΩF |
|
| 電圧テスト |
電圧テスト:2.5評価される電圧は、充満流れ50mAを超過しないかもしれません。 テストの持続期間:5秒 |
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| テスト条件 | |||
| 頻度 | 1M Hz （C>1000pF、1KHz） | 1M Hz | |
| 電圧をテストして下さい | 1.0VDC | 0.5VDC | |
| 電圧pf IRをテストして下さい | 評価される電圧にisequal測定の電圧。充満流れは50mAを超過しないかもしれません。 | ||
| テスト環境の状態 |
温度:23±2℃、 相対湿度:75%の下 通知:テストが非標準的なテスト環境の状態の下で処理されたら、試験結果は間違いです。標準的なテスト環境の下のコンデンサーをテストすることは少なくとも20minsのために調節します。それからテストし始めて下さい。 |
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質項目及び信頼性の点検
| 項目 | テスト指定 | 方法をテストして下さい | ||||||
| Solderability | 終了区域は新しいはんだのコーティングで覆われた少なくとも75%です | コンデンサーの導線はロジンの25%のメタノールの解決に浸り、次に2±0.5秒の235℃±5℃の溶解したはんだに、浸ることの深さは約2.5から鉛の根からの3.0mmまでいずれの場合もあります | ||||||
| はんだ付けする熱への抵抗 | テストの間に損傷またはフラッシュの証拠終わらなかったりし、焦点に署名します | T.C | △C/C≤ | 導線は約2.5から5±0.5秒の主体からの3.0mmまで260℃±5℃の溶かされたはんだに、浸るべきで、指定項目は24±2時間の間去ることの後で測定されます。 | ||||
| NPO | 0.5%または0.5pF | |||||||
| B | ±10% | |||||||
| D.F. IRの価値は元のデータと等しいです | Y （F）/E | ±20% | ||||||
| 生命テスト | 出現 | テストの間に損傷またはフラッシュの証拠終わらなかったりし、焦点に署名します | 条件 | NPO | X7R | Y5V | Z5U | |
| 温度 | 125℃ | 85℃ | ||||||
| 価値変数 |
NPO:≤3%; X7R:≤20%; Y5V:≤30% |
時間 | T=1000h | |||||
| 電圧 | V=1.5Vr | |||||||
| D.F. | 元のデータの≤2時 | 回復時間 | 24±1h | |||||
| IR | R.C.>25ΩF | |||||||
