すべてのタイプの小さい抜き取り検査を用いる米の穀物の質の検光子
型式番号:KVIS-GR
原産地:中国
最小注文数量:1セット
支払い条件:L/C、T/T
供給能力:1 4週あたりにセット1
納期:4から6週
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Hefei Anhui China
住所：
168 TangKouの道、Taohuaの工業団地、合肥市、アンホイ
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内 28 時間
製品詳細
会社概要
製品詳細
すべてのタイプの小さい抜き取り検査を用いる米の穀物の質の検光子
機械変数
| Model.No | KVS-GR | 速度を点検しなさい | 900-1200/min |
| サイズ | 800*600*600mm | 重量 | 110kg |
| 電圧 | 220V±10%、50Hz | 現在 | 500-1000W |
| 周囲温度 | 10~30℃ | 環境の湿気 | 親類temperature≤85% |
点検主義
実験室でKEYE TECHの米の出現の質のテスターが米の出現の質を分析するのに使用することができる。走査器を通して米のイメージを得た後米および米の質の表示器の自動検出を実現するのは専門の器械である。米の質の検光子は米および製品品質の監督、点検およびテストの中心の米の接合箇所の実験室、遺伝学研究の中心、遺伝および進化の生物学の研究所および企業、等を処理している他の科学研究および試験ユニット、穀物の配分企業で頻繁に使用される。
米の出現の質の検査システムは、テスト サンプルの米の穀物の総数、全穀物の平均長さ、平均幅、平均アスペクト レシオ、数、砕け米の数、全製粉された米の率、chalky米の数、chalkinessのサイズのような米のchalky率、平均出現の質の特性、chalkinessおよび透明物自動的にいろいろな種類の米（インドの米、japonicaの米、粘着性の米の、絹の実生植物の米、特別な米、有機性米、等）アスペクト レシオおよび区域を分析し、評価）できる。
システムの特徴
米の出現の質の探知器はイメージのスキャンおよび獲得方法を採用し、画像処理のための多目的コンピュータそして特別な処理ソフトウェアを採用する。
適当な目的:japonicaの米、japonicaの玄米、インドの米、インドの玄米。
- イメージ投射のために延びる4800×9600およびA4の分解能の二重光源のカラー・スキャナーによって装備されている。スキャン幅は30 cmの× 20 cmであり、最低ピクセル サイズは× 0.0053 mmの0.0026 mmである。
- 米の全米率、米および他の質の点検表示器のchalky率、chalkiness、黄色い穀物、不完全な穀物および穀物の形を検出しなさい。
- 自動的に測定は各穀物の区域、長い直径、短い直径、アスペクト レシオ、円形および同等の直径、および自動的に大きいバッチの結果を分析し、処理し、出力できる。
- Chalkiness:自動全米の平均chalkinessのサイズ、chalky米の穀物数、chalkinessの程度、chalkiness率および透明物。
- 砕け米:米の穀物のイメージでは、砕け米、全米、米の穀物数および異常な米は異なった絵の具箱で表示し異なった穀物のタイプの各米の穀物は一目で見ることができる;システムは手動で異常な米を削除できるデータは自動的に更新することができ点検はより正確である。
- 各索引の多くの比率そして粒子数比率を検出しなさい。各分析のイメージ、配分グラフ、結果データは救われ分析の結果はExcelシートへ出力である場合もあるおよび分析のマーカー グラフは出力である場合もある。
すべてのタイプの小さい抜き取り検査を用いる米の穀物の質の検光子
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