IEC60884は低温の影響のための27 IECの試験装置を計算する

IEC60884は低温の影響のための27 IECの試験装置を計算する

IEC60884図27低温の衝撃試験装置

低温圧力衝撃試験装置IEC60884図27

製品に関する情報:

標本は図27に示すように器具によって衝撃試験に服従する。
mmを置かれる器具は厚いスポンジ ゴムのパッドで40の温度にフリーザーに標本とともにの置かれる（–少なくとも16 h.のための15の± 2）の°C。
この期間の終わりに、各標本は、それから、図27に示すように使用の正常位置に置かれ、重量が100つのmmの高さから落ちる。落ちる重量の固まりはある（1つの000 ± 2） g。
テストの後で、標本はこの標準の意味内の損傷を示さない。

技術的な変数:

落下の高さ:10~250mmは調節可能である。

ケーブルの置くことのサンプルのために、必要な低下ハンマーの重量は次の通りある:

適用範囲が広いケーブルおよびテレコミュニケーション ケーブルのサンプルのために、必要な低下ハンマーの重量は次の通りある:

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