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陶磁器ディスク コンデンサーMLCC SMDのチップ・コンデンサCL10A475KQ8NNNCの帽子CER 4.7UF 6.3V X5R 0603
Reliablilityテストおよび判断の状態
絶縁抵抗
判断: より小さいものはどれでも10,000Mohmか100Mohm×㎌
テスト条件:評価される電圧60~120秒。
曲がる強さ
判断:キャパシタンス変更:±12.5%の中では
テスト条件:1.0mm/secの限界(1㎜)へ曲がること。
はんだ付けする熱への抵抗
判断: キャパシタンス変更:±7.5%タンのδの中では、IR:最初のspec。
テスト条件: はんだの鍋:270±5℃、10±1sec。
部門 | 陶磁器ディスク コンデンサー |
---|---|
CL10A475KQ8NNNC | |
適用 | 一般目的 |
温度係数 | X7R |
厚く | 0.035" (0.90mm) |
評価される電圧 | 6.3V |
働く温度較差 | - + 85 Cへの55 C |
設置タイプ | SMD |
キャパシタンス | 4.7UF |
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