粗雑面の二重超音波の調査は大いにより小さい厚さの測定を可能にします

原産地:中国
最低順序量:1
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供給の能力:100pcs/1週
受渡し時間:4-6の仕事日
包装の細部:カートン
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Beijing Beijing China
住所: #613AのLinJIの工業ビル、Shun Ren道、林のNo.53彼工業団地、順義区、101300北京、中国
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製品詳細 会社概要
製品詳細

DAシリーズ二重調査

 

これらのトランスデューサーは簡単なトランスデューサーと大いにより小さい厚さの測定を可能にし、決断の特徴を改善するので区別される。それらに粗雑面やカーブのよい連結があり、高温で測定にとって理想的である。
これらのトランスデューサーの共通の適用は下記のものを含んでいる:
曲げられた幾何学を含む残りの壁厚さの測定、
腐食/腐食の監視
表面および曲げられた部品の近くの不連続の検出
コーティングの溶接のよくか悪い接合箇所の決定

 

モデル頻度水晶サイズ(mm)水晶サイズ(インチ)
DA2.25P7X122.25Mhz7*12mmequv。1/4*1/2インチ
DA5P7X125Mhz7*12mmequv。1/4*1/2インチ
DA2.25P7X242.25Mhz7*24mmequv。1/4*1.00インチ
DA5P7X245Mhz7*24mmequv。1/4*1.00インチ

 

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粗雑面の二重超音波の調査は大いにより小さい厚さの測定を可能にします

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