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SP3020 3軸線0.01μmの線形エンコーダーが付いている自動視野のビデオ測定機械
製品紹介
スパルタ式 シリーズ ビデオMeasuriement機械は高速、高いeffciencyおよび強力な機能と大規模のために繰り返したのそれ測定をあるとりわけ設計されている。
さまざまな大気および宇宙空間、携帯電話、科学研究および教授、電子工学、ハードウェアおよびプラスチックの版、スクリーンの印刷版、アクリルの版、LCPのフィルム、PCB板、LCDTFTのガラス製カバー板、TPの超大きいLCD、型抜き、バックライト モジュールのグループの、また逆行分析のグラフィックR & D、設計、デッサンの編集、実験室の点検、等のような補助測定のためのフレームを押す精密金属の次元の正確さの測定で広く利用されたそれ…
働き主義
工作物をワーク テーブルに置くとき、イメージが装置の伝達または反映の照明によるコンピュータに翻訳するワーク テーブルとともに測定するビデオのようなソフトウェア機能の使用によって、そして捕獲され、輸出される集まる座標ユーザーは円、ライン、工作物への間隔のような測定を取ることができる。 空間的な等位の回転、バッチ測定およびSPCの結果の分類支える優秀なソフトウエア性能は工作物が任意に置かれるまたは据え付け品使用されることができるとき遂行する。
技術仕様
モデル | SP-3020 | SP-4030 | SP-6050 |
測定旅行(mm) | 300x200x200 | 400x300x250 | 600x500x300 |
全体寸法(mm) | 1200x720x1600 | 1250x900x1600 | 1350x1000x1850 |
ワーク テーブルのガラス サイズ(mm) | 339x239x10 | 439x339x12 | 648x548x18 |
重量(kg) | 280 | 410 | 1700 |
最高のテーブルの負荷(kg) | 30 | 30 | 30 |
測定の正確さ(μm) | 1.5+L/200 | 2+L/150 | |
反復性(μm) | 2 | ||
拡大 | 光学拡大0.7-4.5Xのイメージの拡大20-125X | ||
軸線の表示決断 | 0.00001mm (0.01μm) | ||
照明装置 | 2つのレーザーの位置方式との光源の上の8つの区域 | ||
オペレーション・モデル | マウスによる自動、制御、ジョイスティックまたはキーボード | ||
レンズ | 自動ズームレンズ、自動焦点の光学同軸レンズ | ||
視野システム | 高解像のソニーCMOS全体的なシャッター カメラ |
Characterisitics
1. 絶対線形スケールのX/Y/Z 3の斧は0.01のまでμmの決断と独立した研究されてそして成長して、
2. F3高精度は閉じたループの自動ズームレンズを。
3. 有効な、信頼できるシステムであるイーサネット伝達を使用して視野の測定機械の特別な設計されていた動きのコントローラーは不安定なUSB伝達の不利な点を解決できる。
4. イメージを保障する画像処理プロセッサのソニー高解像のCMOSセンサーは明確、塗りつけないでである。
5. 8つの区域を使用して光源はlow-attenuation LEDを使用して独立制御の照明装置およびワーキング・ライフを拡張するために発光要素を仕切った。
6. 単独で開発された多機能の第2および3D測定ソフトウェアはDXF、単語、Excel、PDFおよび他のフォーマットへ、測定の結果出力である場合もある。
F3高精度は閉じたループの自動ズームレンズを
EassonのF3レンズ、完全なクローズド・ループ位置のフィードバックによって開発され、設計されている高精度の、高解像リング スケールが付いているコンバインは同軸つく機能、ギヤ伝達ギャップによって引き起こされる全面的な測定の反復性を改善するために多数の繰返しの間違いが除去されるイメージを含んでいる。
機械スペース補償
間違いの補償は現在問題人工的に新しい元の間違いを作成することの、プロセス エラーを減らし、改良の目的を達成するために2同輩および方向の反対をすることを試み元の元の間違いを相殺するために正確さを処理する。
21の等級の容積測定の補償で、超高速線形エンコーダーの読書および作り付けEAD (絶対スケールのデコーダー)の造られる視野の測定機械のネットワーク・コントロール・システムPCB、高精度な、高リゾリューションの測定を提供する。
強力な測定の付属品
第2/3D合成の測定のためのイギリスのRenishawの高精度の接触調査:
高さの測定、球の測定、傾向がある表面の測定、厚さの測定、平坦の測定、四角さの測定および他の3座標の測定機能等。
高精度Keyenceまたは松下電器産業レーザーの調査を使うと、それはイメージおよび調査が測定することができないこと問題を解決できる。平坦の高速測定のためおよび良い凹面および凸ポイント、V角度および高精度の曲げられた表面のスキャン、等。