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指定は4の特徴を導く通信設備のmiddle-frequency回路の455KHzのSMDの陶磁器フィルターをカバーする。
2.Specいいえ:
4.Electrical特徴
いいえ。 | 項目 | 指定 |
4 – 1 | 中心周波数f0 (6dB帯域幅の中心) | 455±1.0KHz |
4 – 2 | 帯域幅(3dB) | ±5.0KHz分 |
帯域幅(6dB) | ±7.5KHz分 | |
帯域幅(50dB) | ±15.0KHz分 | |
4 – 3 | (fo±100KHz)停止バンド減少 | 45dB分 |
4 – 4 | さざ波(f0±5 khz) | 最高2.0dB |
4 – 5 | 挿入損失(最低の損失ポイントで) | 最高5.0dB |
4 – 6 | 一定温度(- 20℃~ +80℃) | 最高±0.5% (- 25℃ | +80℃) |
4-7 | 実用温度 | -20℃ | +80℃ |
4-8 | 保管温度 | -40℃ | +85℃ |
4-9 | 絶縁抵抗(DC 25V 1分) | 100MΩ分 |
4 – 10 | 入出力インピーダンス | 1.5 KΩ |
5-1。測定の状態
測定は25±2℃の標準温度で遂行される。特定無し
条件、テストは5-35℃の下で遂行することができる。
5-2。測定回路
6.outline
6-1.Appearance:印は明確である、出現は滑らか、損傷ではない。
6-2.Dimensions:(mm)
7.Physical特徴
いいえ。 | 項目 | 測定の状態 | 条件 |
7-1 | 任意低下 | フィルターは具体的な床の30cmの高さからの3つの時の任意低下の後で測定される |
目に見える損傷およびそれ無し 表1に会いなさい |
7-2 |
振動
|
フィルターは2時間3つの垂直な方向のそれぞれへの振動頻度の10-55Hzバンドとの1.5mmの広さの適用された振動であることの後で測定される | 損傷およびそれ無し会うため 表1。
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7-3 | Solderability | 鉛ターミナルは5秒の補佐官のはんだで浸り、次に3±0.5秒の230±5℃のはんだ付けする浴室で、浸る。 | 少なくとも95%の鉛ターミナルははんだでカバーされる。 |
7-4 | 基質の折り曲げ試験 | 矢の方に圧力を適用しなさい(図3)を見なさい 毎秒約0.5mmのレートで達するまで 3mmのくねりおよび30秒の把握。 | それは表1.に会う。
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7-5
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付着 | 矢の方向への20Nのスタティック ロード(見なさい 図4)は部品の中心で加えられる そして10秒の間握りなさい。フィルターははんだ付けされる 正しくそして堅くPCBに。 | それは表1.に会う。
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7-6 | 退潮はんだ付けすること | プリント基板のはんだののりに置かれる(パターンは条件の下で図5)で、サンプル取付けられ、はんだ付けされる示されている(パターンは図6)で示されている、そして測定前の24時間部屋の大気に服従する。 | それは表1.に会う。
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8.Environmental特徴
いいえ。 | 項目 | 測定の状態 | 条件 |
8 – 1 |
湿気 | 90-95%の部屋に置かれることの後 R.H. 100時間およびあること40±2℃ 1時間室温に置かれて、フィルターは測定される。 | それは表1.に会う。 |
8 – 2 | 抵抗への はんだ熱 | 鉛ターミナルは3±0.5秒の350±10℃のはんだ付けする浴室で1.5mmまでフィルターのボディからの、浸る。そしてフィルターは1時間室温に置かれることの後で測定される。 | それは表1.に会う。 |
8 – 3 | 高い 温度 | 100時間80±2℃の部屋の置かれ、の後で、次に1時間室温に置かれること、フィルターは測定される。 | それはTable1に会う |
8 – 4 | 低速 温度 | 100時間-20±2℃の部屋の置かれ、の後で、次に1時間室温に置かれること、フィルターは測定される。 | それは表1に会う |
8 – 5 | 熱衝撃 | 室温の保存の後で、フィルターは– 55 ℃の温度に、30分、そして温度に置かれるために置かれる。30分の85℃。後それは– 55℃に再度戻った。5回の周期の上で繰り返される。部屋の臨時雇用者の保存の後。1時間、フィルターは測定される | それは表1に会う |
表1
項目 | 指定 |
中心周波数 | 最高455±1.0 KHz |
帯域幅(6dB) | ±7.5 KHz分 |
選択率(50dB) | 最高±15.0KHz |
停止バンド減少 | 27dB分 |
さざ波 | 最高2.0dB |
挿入損失 | 最高5.0dB |