F/4クロス型光学設計光ファイバースペクトロメーターによるフィルム厚さの正確な測定
モデル番号:SR100Q
産地:中国
最低注文量:1
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供給能力:100PCS/90-120 日
配達時間:90-120仕事日
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21階,ビルD,清華トンファング科学技術広場,ハイディアン地区,北京 中国
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製品詳細
会社概要
製品詳細
F/4クロス型光学設計ファイバーオプティックスペクトロメーターによる正確な膜厚測定
主な仕様
| スペクトル範囲 | 200nm - 1100nm |
|---|---|
| 有効画素数 | 1024*122 |
| 量子効率 | QE92%peak@650nm、83%@232nm |
| SNR | 1000:1 |
精密膜厚測定用高性能分光計
半導体、太陽光パネル、ディスプレイ技術のアプリケーションに不可欠な当社の分光計は、非破壊、高速の膜厚測定を提供します。高度な光学機器とAIアルゴリズムを組み合わせることで、このシステムは膜製造プロセスを最適化し、優れた品質管理を保証します。
詳細な技術パラメータ
| 検出器仕様 | ||
|---|---|---|
| 検出器 | 裏面照射型TE冷却浜松S7031 | |
| 有効画素 | 1024*122 | |
| 画素サイズ | 24*24μm | |
| 受光面積 | 24.576*2.928mm | |
| 光学パラメータ | ||
| 光学設計 | F/4クロス型 | |
| 開口数 | 0.13 | |
| 焦点距離 | 100mm | |
| 入射スリット幅 | 10μm、25μm、50μm、100μm、200μm（カスタマイズ可能） | |
| ファイバーインターフェース | SMA905、自由空間 | |
| 電気的パラメータ | ||
| 積分時間 | 8ms-3600s | |
| データ出力インターフェース | USB3.0、RS232、RS485、20ピンコネクタ | |
| ADCビット深度 | 16ビット | |
| 電源 | 5V | |
| 動作電流 | <3.5A | |
| 物理的パラメータ | ||
| 動作温度 | 10℃~40℃ | |
| 保管温度 | -20℃~60℃ | |
| 動作湿度 | <90%RH（結露なし） | |
| 寸法 | 180mm*120mm*50mm | |
| 重量 | 1.2kg | |
利用可能なモデル
| モデル | スペクトル範囲(nm) | 分解能(nm) | スリット(μm) |
|---|---|---|---|
| SR100Q-G21 | 200~950 | 6.8 | 200 |
| SR100Q-G22 | 350~1100 | 2.2 | 50 |
| SR100Q-G23 | 200~775 | 1.6 | 50 |
| SR100Q-G24 | 350~925 | 1.0 | 25 |
| SR100Q-G25 | 532~690(4400cm-1*) | 13cm-1 | 50 |
| SR100Q-G26 | 638~800(3200cm-1*) | 10cm-1 | 25 |
| SR100Q-G27 | 785~1050(3200cm-1*) | 11cm-1 | 50 |
注：*の付いたモデルは、主にラマンアプリケーション向けに設計されています。
技術的利点
- 高い量子効率：92% peak @650nm、83% @232nm
- 優れた信号対雑音比：SNRが最大1000:1の超低暗電流ノイズ
- 強い環境適応性により、長時間の露光中に弱い信号をクリアに処理
- 低ノイズ、高速回路、USB3.0インターフェース
測定方法
光ファイバープローブからの光が膜と相互作用すると、空気-膜表面と膜-基板界面の両方で二重反射が発生します。その結果生じる干渉パターンは、分光計によって検出されるスペクトルフリンジを生成します。光路差により、θ、n、スペクトルピークなどの入力を使用して、極値法による正確な厚さの決定が可能になります。厚い膜はより狭いフリンジ間隔を示し、長い波長はより広い間隔を作成します。測定精度は、適切な波長と分解能の設定によって最適化されます。
産業用途
- 吸収、透過率、反射スペクトル分析
- 光源およびレーザー波長特性評価
- 蛍光およびラマン分光法用OEMモジュール
JINSP Companyについて
JINSP Company Limited（「JINSP」）は、ラマン、FT-IR、LIBS技術において17年以上の経験を持つスペクトル検出技術を専門としています。当社のコアテクノロジーは、200件以上の特許出願により国際的なリーダーシップを達成しています。
中国江蘇省に製造施設を持つ北京に本社を置き、JINSPはISO9001:2015、ISO14001:2015、およびISO45001:2018の認証を取得しています。当社は、公安省承認、国家計量研究所認証、環境レベル認証、IP評価、CE認証、およびEU ECAC認証を含む包括的な認証を提供しています。
よくある質問
Q：この分光計は、初めてのユーザーでも簡単に操作できますか？
A：包括的な英語マニュアルと説明ビデオ、および当社のエンジニアによる専門的な技術サポートを提供しています。
Q：オペレーターのトレーニングは提供していますか？
A：当社の施設でのオンサイトトレーニングと、お客様の場所での設置、トレーニング、デバッグ、メンテナンスを含むフィールドサポートの両方を提供しています。
Q：あなたのウェブサイトは何ですか？
A：www.jinsptech.comをご覧くださいQ：どのような品質保証対策がありますか？
A：当社の専任品質チームが出荷前に徹底的な検査を実施し、ご要望に応じてドキュメントと写真による証拠を提供しています。
F/4クロス型光学設計光ファイバースペクトロメーターによるフィルム厚さの正確な測定
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