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TOPFER コンピュータ電源試験システムは,高速な試験速度と高精度で,電源試験を全方位的にサポートします
トップスマート2000 ATE電源試験システムの特徴:
オープン
顧客ニーズに応じて様々なテストデバイスの追加または除去を可能にするオープンハードウェアプラットフォーム (GPIB,RS-232,USBインターフェイスを含むデバイスなど)
• ATE電源試験システムは,複数の単一グループ/複数グループ出力電源の同時試験をサポートし,生産ラインの容量を大幅に増加させます.
オープンなソフトウェアプラットフォームであるATE電源試験システムは,顧客の試験要件に基づいて新しい試験項目と機能で拡張できます.
• ATE電源試験システムは,テスト中に複数のレーンバーコードを同時にスキャンし,テストの全体的な速度を向上させます.
普遍的な
• ATE電源試験システムは,様々な電源 (LED電源,アダプター/充電器,PC電源,インバーター,通信電源など) の試験をサポートします.
• ENERGY STAR と IEC 62301 の測定要件を満たしています.
• 製造情報システム (ShopFloor) インターフェースをサポートします.
• ATE電源試験システムは,CV,CC,CR,LEDモードで様々な電源パラメータの試験をサポートします.
• ハードウェアのコンフィギュレーションの任意の組み合わせを可能にするディスプレイモードを最適化します
高速車
• ATE電源試験システムは,複数の単一グループ/複数グループ出力電源の同時試験をサポートし,生産ラインの容量を大幅に増加させます.(LED電源/アダプター/充電器の試験速度は,広く使用されている6000シリーズ電源自動システムの2倍以上です.)
• テスト中にバーコードを並列スキャンし,テスト速度を大幅に改善します.
自動化テストと人間化された操作を実現する 機器がますます多く,自動化テストに 向き合っています.一人が複数のセットのテストを実行できるこのような自動化試験生産ラインは,生産コストを削減し,生産効率を向上させるだけでなく,そして電源製品の質を向上させる低コストで高収益率を上げます 低コストで高収益率を上げます企業の競争力を高める.
トップスマート2000 ATE電源試験システム 試験項目:
| 試験用品 | 総合テスト項目 | 
| CECテスト | 短回路試験 | 
| C.V.モードのDC電流 | 短回路電流 | 
| ピークピークの騒音 | OV保護 | 
| 連続反応時間試験 | 紫外線保護 | 
| 臨時応答時間 | OL保護 | 
| 臨時ピーク | OP保護 | 
| 追跡 | 試験中の調整試験 | 
| 圧力の調節 | ACサイクルを停止する | 
| 現行規則 | PLDシミュレーション | 
| オンする時間 | DC出力電流試験 | 
| 昇る時間 | DC出力電圧試験 | 
| 秋の時間 | 波形読み取りのテスト | 
| 待機時間 | 入力衝動電流試験 | 
| 入力電流試験 | 入力電源 | 
| パワー 良好な信号 | リレー制御 | 
| 停電信号 | 文字列コードスキャン | 
| P/S ON信号 | ダイナミックテスト | 
| パワーアップシーケンス | C.P.モードの仕様 | 
| 停電の順序 | 入力ピーク電流 | 
| 効果テスト | 拡張測定の追加試験 | 
| 総安定性試験 | 入力RMS電流 | 
| 扇風機速度試験 | TTL信号制御 | 
| 入力電力の因数 | LAN 読み書き | 
| 入力電圧ランプ | RS485読み書き | 
| 入力周波数 ランプ | USB読み書き | 
| 測定試験を延長する | 232 読み書き | 
| 自動テスト | GPIB 読み書き | 
