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試験機器 電力 試験システム 充電器 高電圧自動統合のためのインテリジェント機器 試験器
トップスマート2000 ATE電源試験システムの特徴:
オープン
顧客ニーズに応じて様々なテストデバイスの追加または除去を可能にするオープンハードウェアプラットフォーム (GPIB,RS-232,USBインターフェイスを含むデバイスなど)
• ATE電源試験システムは,複数の単一グループ/複数グループ出力電源の同時試験をサポートし,生産ラインの容量を大幅に増加させます.
オープンなソフトウェアプラットフォームであるATE電源試験システムは,顧客の試験要件に基づいて新しい試験項目と機能で拡張できます.
• ATE電源試験システムは,テスト中に複数のレーンバーコードを同時にスキャンし,テストの全体的な速度を向上させます.
普遍的な
• ATE電源試験システムは,様々な電源 (LED電源,アダプター/充電器,PC電源,インバーター,通信電源など) の試験をサポートします.
• ENERGY STAR と IEC 62301 の測定要件を満たしています.
• 製造情報システム (ShopFloor) インターフェースをサポートします.
• ATE電源試験システムは,CV,CC,CR,LEDモードで様々な電源パラメータの試験をサポートします.
• ハードウェアのコンフィギュレーションの任意の組み合わせを可能にするディスプレイモードを最適化します
高速車
• ATE電源試験システムは,複数の単一グループ/複数グループ出力電源の同時試験をサポートし,生産ラインの容量を大幅に増加させます.(LED電源/アダプター/充電器の試験速度は,広く使用されている6000シリーズ電源自動システムの2倍以上です.)
• テスト中にバーコードを並列スキャンし,テスト速度を大幅に改善します.
プロフェッショナル
• ATE電源試験システムは,LEDドライバ電源の完全な試験をサポートします.
• テストされたLEDドライバの平均電流と有効電流を正確に読み取ることができます.
• 電子ロードの起動から発生する高電流の波動により,LEDドライバを引っ張らずに,低電力LEDドライバの電源を簡単に起動します.
• ATE電源試験システムは,システムの設定を通じて,LEDの限界値とオン後の動作点抵抗を現実的に設定します.試験された電流と電圧の波形が実際のLEDに非常に近い.
• より現実的な高周波の電流波形
• 暗くする機能試験:暗くする電流,暗くする周波数,暗くする期間 (追加の関連ハードウェア装置が必要).
1性能最適化:電源の研究開発段階では,ATEシステムは,技術者に電源の性能パラメータを迅速かつ正確に測定し,性能ボトルネックを解析するのに役立ちます例えば,電源の変換効率が低いことが試験で明らかになった場合,エンジニアは回路のトポロジーを調整し,適切なコンポーネントを選択して変換効率を向上させることができます.
2障害者分析:電源が故障したり異常な動作を示すときATE システムは,詳細な試験データと分析ツールを通じて,エンジニアが故障の原因を迅速に特定するのに役立ちます開発サイクルを短縮し,コストを削減し,電力供給の質と信頼性を向上させるのに役立ちます.
3互換性試験: アダプターや充電器などの様々なデバイスと併用する必要がある電源については,ATEシステムは互換性試験を行うことができます.電源と異なるデバイスの間のマッチングの程度と,互換性の問題があるかどうかを検出します.電気源が実用的な用途で正常に機能できるようにする.
トップスマート2000 ATE電源試験システム 試験項目:
試験用品 | 総合テスト項目 |
CECテスト | 短回路試験 |
C.V.モードのDC電流 | 短回路電流 |
ピークピークの騒音 | OV保護 |
連続反応時間試験 | 紫外線保護 |
臨時応答時間 | OL保護 |
臨時ピーク | OP保護 |
追跡 | 試験中の調整試験 |
圧力の調節 | ACサイクルを停止する |
現行規則 | PLDシミュレーション |
オンする時間 | DC出力電流試験 |
昇る時間 | DC出力電圧試験 |
秋の時間 | 波形読み取りのテスト |
待機時間 | 入力衝動電流試験 |
入力電流試験 | 入力電源 |
パワー 良好な信号 | リレー制御 |
停電信号 | 文字列コードスキャン |
P/S ON信号 | ダイナミックテスト |
パワーアップシーケンス | C.P.モードの仕様 |
停電の順序 | 入力ピーク電流 |
効果テスト | 拡張測定の追加試験 |
総安定性試験 | 入力RMS電流 |
扇風機速度試験 | TTL信号制御 |
入力電力の因数 | LAN 読み書き |
入力電圧ランプ | RS485読み書き |
入力周波数 ランプ | USB読み書き |
測定試験を延長する | 232 読み書き |
自動テスト | GPIB 読み書き |