ASTM D 150 透過性試験器 セラミックス複合物 介電常量計
モデル番号:LRTD
原産地:中国
最小注文数量:1
支払い条件:L/C、D/A、D/P、T/T、Western Union
供給能力:200
配達時間:5~8 営業日
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製品詳細
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製品詳細
ASTM D 150 誘電率テスター セラミックス複合材料誘電率計
1.De説明:
LRTD高周波絶縁材料誘電率および誘電損失試験システムは、試験装置（クランプ固定具）、高周波Qメーター、データ収集、tanδ自動測定制御（LRTDに組み込まれたソフトウェアモジュール）、およびインダクタで構成されています。国家規格GB/T 5594.4-2015「電子部品の構造セラミック材料の性能試験方法-パート4：誘電率および誘電損失正接値の試験方法」、GB/T 1693-2007「加硫ゴムの誘電率および誘電損失正接値の測定」、GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、アメリカ規格ASTM D150、および国際電気標準会議IEC 60250に準拠して設計および製造されています。このシステムは、絶縁材料の高周波誘電損失正接値（tanδ）と誘電率（ε）の自動測定に最適なソリューションを提供します。この機器の試験装置は、試験サンプルをクランプするために一般的に使用される平板コンデンサで構成されており、指示計器としてQメーターが装備されています。絶縁材料の誘電損失正接値は、試験サンプルを平板コンデンサに配置した場合と配置しない場合のQ値の変化と厚さの目盛り読み取りによって計算されます。LRTDデジタルQメーターを使用すると、誘電率（ε）と誘電損失（tanδ）を自動的に計算できます。
2.構成:
LRTD-Cテストホスト1台、サンプル固定具1台、インダクタ1セット（10個）が含まれています。液体材料の試験には、オプションの液体カップが利用可能です。
3.技術パラメータ
LRTD誘電率/損失試験システムのシステム構成:
メインユニット：高周波Qメーター
| 機能カテゴリ | パラメータ | 仕様/値 | 備考 |
| ソース | 信号源タイプ | DDSデジタル合成信号 | |
| 周波数範囲 | 100 kHz - 160 MHz | ||
| 周波数カバレッジ比 | 16000:1 | ||
| 周波数精度 | 3 × 10⁻⁵ ±1カウント（有効桁数6桁） | ||
| サンプリング | サンプリング精度 | 12ビット | Qの安定性と低Df材料試験の安定性を保証 |
| Q測定 | Q測定範囲 | 1 - 1000 | 自動/手動レンジ |
| Q分解能 | 0.1（有効桁数4桁） | ||
| Q測定誤差 | < 5% | ||
| インダクタンス（L）測定 | L測定範囲 | 1 nH - 140 mH | 分解能0.1 nH（有効桁数4桁） |
| L測定誤差 | < 3% | ||
| 同調コンデンサ | メイン容量範囲 | 17 pF - 240 pF | 高精度銀メッキモノリシック構造 |
| 容量自動検索 | はい | ステッピングモーター付き | |
| 直接C測定範囲 | 1 pF ~ 25 nF | ||
| 同調コンデンサ誤差 | ±1 pFまたは< 1% | ||
| 同調コンデンサ分解能 | 0.1 pF | ||
| 共振 | 共振点検索 | 自動スキャン | |
| Q機能 | Q合格/不合格プリセット範囲 | 5 - 1000 | 可聴/視覚表示 |
| Qレンジ切り替え | 自動/手動 | ||
| ディスプレイ（LCD） | 表示パラメータ | F、L、C、Q、Lt、Ct、tn、Σr | F=周波数、L=インダクタンス、C=容量、Q=品質係数、Lt/Ct=同調、tn=？、Σr=直列R？ |
| ユニークな機能 | 自動残留インダクタンス控除 | はい | 残留インダクタンスとリードインダクタンス（ユニーク） |
| 大容量直接表示 | はい | 最大25 nF（ユニーク） | |
| 材料試験 | 損失係数（Df）精度 | 0.01%（1/10,000） | |
| 誘電率（εᵣ）精度 | 0.1%（1/1,000） | ||
| 材料厚さ範囲 | 0.1 mm - 10 mm | ||
| 誘電率表示 | LCDに直接表示 | ||
| 損失係数表示 | LCDに直接表示 | ||
| 誘電率試験周波数範囲 | 100 kHz - 100 MHz |
誘電率εrおよび誘電損失係数tanδ試験装置:
| 機能 | 仕様 | 備考 | |
| 固体サンプル | 測定直径 | Ø 38 mm | |
| 厚さ範囲 | 調整可能、< 15 mm | 代表的な範囲 | |
| 電極板 | カスタマイズ可能 | （オプションのカスタマイズ） |
インダクタ
| 番号 | インダクタンス（L） | 精度 | Q係数≥ | 概算分布容量（Cd） | 共振周波数範囲（MHz） | 誘電率試験の推奨周波数 |
| 1 | 0.1 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 31 - 103 | 50 MHz |
| 2 | 0.5 μH | ±0.05 μH | 200 | 5 pF | 14.8 - 46.6 | 15 MHz |
| 3 | 2.5 μH | ±5% | 200 | 5 pF | 6.8 - 21.4 | 10 MHz |
| 4 | 10 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 3.4 - 10.55 | 5 MHz |
| 5 | 50 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.5 - 4.55 | 1.5 MHz |
| 6 | 100 μH | ±5% | 200 | 6 pF | 1.06 - 3.20 | 1 MHz |
| 7 | 1 mH | ±5% | 150 | 8 pF | 0.34 - 1.02 | 0.5 MHz |
| 8 | 5 mH | ±5% | 130 | 8 pF | 0.148 - 0.39 | 0.25 MHz |
| 9 | 10 mH | ±5% | 90 | 8 pF | 0.107 - 0.32 | 0.1 MHz |
| 10 | 14 nH | ±5% | 100 | 5 pF | 〜100 MHz | 100 MHz |
ASTM D 150 透過性試験器 セラミックス複合物 介電常量計
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