3 軸 FOG オプティカルモジュールテストシステム 1550nm オプティカルモジュールのジロレベルテスト精度
モデル番号:LKF-OMTS1550C
原産地:中国
最小注文数量:1
支払い条件:T/T
供給能力:10000
納期:2〜4週間
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Wuhan Hubei China
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湖北省武漢市江夏区江夏大道17号
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基本情報
最小注文数量（MOQ）:1
仕様番号:LKF-OMTS1550C
製品紹介
はじめに
LKF-OMTS1550C FOG光モジュール試験システムは、1550nmの動作波長を持つファイバーコイルのジャイロレベルの試験と評価に使用できる、3軸高精度ジャイロバイアス試験システムです。その技術原理は3軸FOGと類似しており、角速度と温度データをシリアルポート経由で直接出力できます。特別な試験ソフトウェアを使用することで、光モジュールの実際の長さに合わせて長さパラメータを設定でき、データの記録、分析、保存が可能であり、バイアス、バイアス安定性などの重要な情報を取得できます。LKF-OMTS1550Cデバイスは、最大3つの光モジュールを同時に接続でき、互いに干渉することなく3チャンネルの試験を同時に実行できます。このシステムは、完全な機能、安定した性能、簡単な操作、および容易な出荷という利点があり、実用的な試験システムとなっています。
装置構成
LKF-OMTS1550C試験システムは、ファイバーコイル試験ユニット、RS422/USBアダプター、および特別な試験ソフトウェアの3つの部分で構成されています。このデバイスはアルミニウム合金3Uシャーシを使用して組み立てられ、RS422シリアルポート経由でデータを出力します。RS422/USBアダプターは、シリアルポートデータをUSBデータに変換し、コンピュータとの通信を容易にします。試験ソフトウェアは、Windows xp、7、10などのコンピュータOSと互換性があり、リアルタイムの取得、処理、および保存を可能にするウィンドウインターフェースを備えています。
LKF-OMTS1550C FOG光モジュール試験システム | |
性能仕様 | |
波長 | 1550 nm |
バイアス安定性(25℃) | 最適≤0.01 °/時、(100秒、平均、光モジュール長に関連) |
動作温度 | (25±15) ℃ |
測定可能温度 | (-45 ~ +70) ℃ |
測定可能光モジュール長 | (800 ~ 3000) m、調整可能 |
試験時間範囲 | 1秒 ~ 30時間 |
電気/機械インターフェース | |
サイズ | ~(450×147×452)mm |
電源 | 220V、50Hz、AC |
I/Oシリアルポート | RS422(デフォルト), RS232(オプション) |
温度センサー | 3、DS18B20、航空プラグ |
テールファイバー | SMファイバー、2m、3チャンネル |
主な特徴 優れたバイアス安定性£0.02°/時、(100秒, 平均, 最適、光モジュール長に関連)3つの試験チャンネル、各チャンネルは独立して動作動作波長1550nm試験時間範囲1秒～30時間測定可能光モジュール長800～3000m、ソフトウェアで設定可能
適用分野 ファイバーコイルのジャイロレベルの試験と評価
3 軸 FOG オプティカルモジュールテストシステム 1550nm オプティカルモジュールのジロレベルテスト精度
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