AD767JN 集積回路チップマイクロプロセッサ互換 12 ビット D/A コンバータ

マイクロプロセッサ対応12ビットD/Aコンバータ AD767*

特徴

• 完全な 12 ビット D/A 機能
  • オンチップ出力アンプ
  • 高安定性埋め込みツェナーリファレンス
• 40nsの高速書き込みパルス
• 0.3 インチ スキニー DIP および PLCC パッケージ
• シングルチップ構造
• 全温度範囲で単調性を保証
• セトリング時間: 1/2 LSBまで最大3ms
• 612 V または 615 V 電源での動作を保証
• TTL/5V CMOS互換ロジック入力
• MIL-STD-883 準拠バージョンが利用可能

製品説明

AD767 は、単一チップ上に高安定性埋め込みツェナーリファレンスと入力ラッチを備えた完全な電圧出力 12 ビット D/A コンバータです。このコンバータは、12 個の高精度高速バイポーラ電流ステアリング スイッチと、レーザーでトリミングされた薄膜抵抗ネットワークを使用して高精度を実現します。

マイクロプロセッサの互換性は、オンチップ ラッチによって実現されます。入力ラッチの設計により、12 ビット バスへの直接インターフェイスが可能になります。ラッチは 40 ns という短いストローブ パルスに応答するため、入手可能な最速のマイクロプロセッサでの使用が可能になります。

AD767 の機能の完全性と高性能は、高度なスイッチ設計、高速バイポーラ製造プロセス、実績のあるレーザー・ウェーハ・トリミング (LWT) テクノロジーの組み合わせによって実現されています。

チップ上の表面下（埋め込み）ツェナー ダイオードは、最良のディスクリート リファレンス ダイオードに匹敵する長期安定性と温度ドリフト特性を備えた低ノイズ電圧リファレンスを提供します。優れた直線性を実現するレーザートリミングプロセスは、基準値の絶対値とその温度係数のトリミングにも使用されます。したがって、AD767 は、最大直線性誤差が ±1/2 LSB であり、全温度範囲にわたって単調性が保証されているため、広い温度範囲の性能に最適です。標準的なフルスケール ゲイン TC は 5 ppm/°C です。

製品のハイライト

1. AD767 は、単一の IC チップ上に電圧リファレンスとデジタル ラッチを備えた完全な電圧出力 DAC です。

2. 入力ラッチは 40 ns という短い書き込みパルス幅に応答し、業界最速のマイクロプロセッサとの直接インターフェイスを保証します。

3. 内部埋め込みツェナー基準は、最大誤差 ±1% で 10.00 ボルトにレーザートリミングされます。基準電圧は外部アプリケーションにも使用できます。

4. ゲイン設定およびバイポーラ オフセット抵抗は、低いゲイン温度係数を保証するために内部ラダー ネットワークに適合しており、フルスケールおよびバイポーラ オフセット誤差を最小限に抑えるためにレーザー トリミングされています。

5. 高精度の高速電流ステアリング スイッチとオンボード高速出力アンプは、適切に補償されている場合、10 V フルスケール遷移の 1/2 LSB 以内で 3.0 µs 以内に安定します。

6. AD767 には、MIL-STD-883 に準拠したバージョンが用意されています。詳細な仕様については、アナログ・デバイセズの軍事製品データブックまたは最新の AD767/883B データシートを参照してください。

絶対最大定格*

V_CC電源グランドに接続します。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。0.0V～+18V

V_EE電源グランドに接続します。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。0V～-18V

デジタル入力 (ピン 11、13 ～ 24)

電源グランドに接続します。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。–1.0V～+7.0V

基準グランドへのRef In。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。±12V

基準グランドへのバイポーラ オフセット。。。。。。。。。。。。。。。。±12V

基準グランドまでの 10 V スパン R。。。。。。。。。。。。。。。。。±12V

基準グランドまでの 20 V スパン R。。。。。。。。。。。。。。。。。±24V

リファレンスアウト、V_外(ピン6、9)。。。電源グランドへの不定短絡 VCC への瞬間的短絡

消費電力。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。。.1000mW

*「絶対最大定格」に記載されているストレスを超えると、デバイスに永久的な損傷を与える可能性があります。これはストレス定格のみであり、この仕様の動作セクションに示されている条件またはその他の条件でのデバイスの機能動作は暗示されません。絶対最大定格条件に長時間さらされると、デバイスの信頼性に影響を与える可能性があります。

機能ブロック図

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