電源の移動体通信のためのB560C-13-F ICの破片のケイ素のショットキー ダイオードの低下

型式番号:B560C-13-F
原産地:台湾
最低順序量:100pcs
支払の言葉:T/T、ウェスタン・ユニオン、Paypal
供給の能力:10000pcs
受渡し時間:1日
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Shenzhen China
住所: 部屋1204のDingchengの国際的な建物、ZhenHuaの道、福田区、シンセン、中国。
サプライヤーの最後のログイン時間: 内 48 時間
製品詳細 会社概要
製品詳細

B560C-13-F

5.0A表面の台紙のショットキー障壁の整流器


特徴

プラスチック パッケージに保険業者のLaborator 111の燃焼性の分類94V-0がある

表面の取付けられた適用のため

控えめなパッケージ

作り付けのストレイン・レリーフ

金属のケイ素の接続点、多数キャリアの伝導

高いサージ機能

高い現在の機能、低い前方電圧低下

低い電力の損失、高いeffciency

低電圧の高周波インバーターの使用、自由に動く111および極性の保護適用のため

過電圧の保護のためのGuardring

高温にはんだ付けすることは保証した:250o C/10 1ターミナルの11秒


機械データ

場合:JEDEC DO-214ABの1111passivated破片上の形成されたプラスチック

ターミナル:はんだは、MIL-STD-750ごとにsolderableめっきした

重量:0.007オンス、0.21グラム


物品目録の部分

部品番号。ブランドDatacodeパッケージ
C.I UBA3070T1136SOP-8
ACOPLADOR.PC817Aシャープ2016.08.10/H33DIP-4
DIODO BYG23M-E3/TRVISHAY1620SMA
RES 2010 330R 5% CRCW2010330RJNEFVISHAY1612SMD2010
RES 2010 68K 5% CRCW201068K0JNEFVISHAY1615SMD2010
DIODO SML4742A-E3/61VISHAY1632/12SMA
RES 2010 15K 5%
RC2010JK-0715KL
YAGEO1624SMD2010
DIODO SMBJ10AVISHAY1610/KXSMB
TRANS STN3NF06LSTY534SOT-223
TRANS FZT605TAZETEX16+SOT-223
C.I M41T56M6FSTEZ428SOP-8
C.I A3955SLB-Tアレグロ1413SOP-16
C.I 74HC373D1612SOP-20
DIODO SMF10A-GS08VISHAYSOD123FL
TRANS SI4436DYVISHAYW86KSOP-8
C.I 24LC512-I/SNマイクロチップ161278USOP-8
OPTOACOPLADOR H11A2MFSCV225QDIP-6
C.I TNY268PN ROHS1530DIP-8
OPTOACOPLADOR CNY74-4HVISHAYV437/U27DIP-16
C.I LM3578AMNSCCSRCSOP-8
OPTOACOPLADOR 6N137MFSC1635BDIP-8
C.I M41T56M6FSTEZ428SOP-8
C.I A3955SLB-Tアレグロ1413SOP-16
C.I 74HC373D1612SOP-20
C.I LM3411M5-5.0NSCD01BSOT23-5
HT7550A-1HOLTEK2016/05/18/1449TO-92
ULN2003ADR2G1628/PJUH28SOP-16
帽子。CER 10KPF 50V X7R ±15% CL10B103KB8NNNCサムスンAC4TOL1SMD0603
RES 0603 100R 5% RC0603JR-07100RLYAGEO1632SMD0603
抵抗器SMD 0R 5% 1210
RC1210JR-070RL
YAGEO1624SMD1210
C.I TPIC6595N (03LOCDT、51A0CKT、5AAを区分してはいけない)チタニウム1110DIP-20
C.I 74HC238D1622SOP-16
H11A817CFSCV631YDIP-4
C.I LMH6624MANSC39ADSOP-8
DIODO VESD05A1B-02ZVISHAYYHSOD923
IND.4.7UH 1MHZ 1A 20% VLS3012T-4R7M1R0TDK16+SMD
China 電源の移動体通信のためのB560C-13-F ICの破片のケイ素のショットキー ダイオードの低下 supplier

電源の移動体通信のためのB560C-13-F ICの破片のケイ素のショットキー ダイオードの低下

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