否定論履積のフラッシュ・メモリICの破片力管理ICミクロンMT29F32G08CBADBWP
モデル番号:MT29F32G08CBADBWP
最低順序量:交渉可能
支払の言葉:T/T、D/P、D/A、L/C、ウェスタン・ユニオン、MoneyGram
供給の能力:3000000 個
受渡し時間:交渉可能
プロダクト モデル:MT29F32G08CBADBWP
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RM4,16/F HO KING COMM CRT 2-16 FAYUEN ST MONGKOKKL
サプライヤーの最後のログイン時間:
内 16 時間
製品詳細
会社概要
製品詳細
否定論履積のフラッシュ・メモリICの破片力管理ICミクロンMT29F32G08CBADBWP
製品範囲
- 否定論履積のフラッシュ・メモリICの破片力管理ICミクロンMT29F32G08CBADBWP
- 32Gbの非同期/同期否定論履積の特徴の
Appの特徴
- 開いた否定論履積抜け目がないインターフェイス（ONFI） 2.3-compliant1
- 多数レベルの細胞（MLC）の技術•構成
- ページ サイズx8:8936バイト（8192の+ 744バイト）
- ブロック サイズ:256ページ（2048K + 186Kバイト）
- 平らなサイズ:平面ごとの2つの平面x 1064のブロック
- 装置サイズ:32Gb:2128のブロック;64Gb:4156のブロック;
- 同期入力/出力の性能
- まで同期タイミング モード4
- クロック レート:12ns （DDR）
- ピンごとの読み書き効率:166MT/s
- 非同期入力/出力の性能
- まで非同期タイミング モード5
- tRC/tWC:20ns （分）
- ピンごとの読み書き効率:50MT/s
- 配列の性能
- 読まれたページ:100µs （MAX）
- プログラム ページ:1300µs （タイプ）
- 消去のブロック:3ms （タイプ）
- 作動の電圧範囲
- VCC:2.7-3.6V
- VCCQ:2.7-3.6V
- 命令セット:ONFI否定論履積の抜け目がない議定書
- 高度命令セット
- プログラム隠し場所
- 順次読まれた隠し場所
- 任意読まれた隠し場所
- 一度だけのプログラム可能な（OTP）モード
- 複数の平面命令
- 複数のLUN操作
- 読まれた独特なID
- Copyback
- 読まれた再試行
- シングル レベルの細胞（SLC） mode2
- ユーザーの非選択可能なデータrandomization2
基本データ
| 製品特質 | 属性値 |
|---|---|
| ミクロン | |
| 製品カテゴリ: | ゲートの運転者 |
| RoHS: | 細部 |
| 記憶IC | |
| SMD/SMT | |
| TSOP-48 | |
| MT29F32G08CBADBWPR:D | |
| 巻き枠 | |
| テープを切りなさい | |
| 巻き枠 | |
| ブランド: | ミクロン |
| 敏感な湿気: | はい |
| 製品タイプ: | ゲートの運転者 |
| 2500 | |
| 下位範疇: | 否定論履積のフラッシュ |
| 技術: | Si |
| 商号: | NexFET |
| 単位重量: | 0.001686 oz |
ダウンロードのデータ用紙
- 否定論履積のフラッシュ・メモリICの破片力管理ICミクロンMT29F32G08CBADBWP
適用
- Ultrabook/ノートDC/DCのコンバーター
- 多相VcoreおよびDDRの解決
- NetworkingTelecomのポイントの負荷同期木びき台、および計算機システム
- 電池式システム
- 携帯用HDMIの適用
- USB-OTGの適用
- 携帯電話、スマートな電話
順序プロセス
RFQの形態に部品を加えなさい RFQを堤出しなさい 私達は24時間以内に答える 順序を確認する 支払 船あなたの順序
より多くの記憶IC破片モデル
| 24LC02BT | 24LC04BT | 24LC08BT | 24LC16BT |
| 24LC32BT | 24LC64T | 24LC128T | 24LC256BT |
| W25Q16JVUXIQ | W25Q16DVSSIG | W25Q16JVSSIQ | W25Q16CVSSIG |
| W25Q16JVSNIQ | W25Q16JVSNIQT | W25Q16FWUUIQ | W25Q16JLSNIG |
| W25Q32JVSSIQ | W25Q32FVSSIG | W25Q32BVSSIG | W25Q32JVZPIQ |
| W25Q64JVSSIQ | W25Q64FVSSIG | W25Q64FWSSIG | W25Q64BVSSIG |
| W25Q128JVSIQ | W25Q128FVSIG | W25Q128JVSSIQ | W25Q128JVEIQ |
| W25Q256JVEIQ | W25Q256JVFIQ | W25Q256FVEIG | W25Q256FVFIG |
| W25Q512JVEIQ | W25Q512JVFIQ | W25Q512JVFIM | W25Q512JVEIM |
適用
- 段階で広く利用された
- コンサート
- TVに住みなさい
- 新しいエネルギー
- 家庭用電化製品
- 3Cデジタル
- 自動車電子工学
- 計器
破片の図表
否定論履積のフラッシュ・メモリICの破片力管理ICミクロンMT29F32G08CBADBWP
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