電子光学スペクトル検光子ADVANTEST Q8383の横のスケール

• Q8383はAdvantestからの光学検光子である。光学スペクトル検光子はまた、光学検光子を、である光学源の力を測定する精密機械呼んだ。この電子試験装置は指定波長のスパン上の電力配分を監視するのためである。それは力が縦のスケールである波長が横のスケールであるグラフの測定を表示し。

付加的な特徴:

• 光学アンプのための低い分極の依存の光学スペクトル検光子
• 力測定
• 脈拍ライト測定

分光価値

• 波長:550への1750 nm
• 決断（半価幅）:0.1への5 nm、ステップ1/2/5の
• 測定の正確さ:±0.2 nm
• 測定法:分極償われた二重パスのモノクロメーター
• スパン:1から1200 nm、0 nm

レベル

処理

• 測定の時間:200 nmのスパンのための0.8第2
• 記憶:32のカーブ、10の器械の組み立て、3 ½の」ディスク・ドライブ
• アンプ（EDFA）の分析:雑音指数、自然放出、力、利益;X dBの帯域幅、ピーク波長、等。

インターフェイス

• 光コネクタ:繊維の接触のないFC
• リモート・コントロール:IEC625 （IEEE488）
• プリンター:作り付けプリンター（標準）またはIEC/IEEEバスでの作図装置への出力

一般データ

• 電源:90から250ボルト、48/66のHz、180 VA
• 次元（D） W X H X;重量:424のmm X 221のmm X 450のmm;29のkg

Advantest Q8383はdouble-passモノクロメーターおよび極端に低い分極の依存の高級なスペクトル検光子である。特別な方法のおかげで、±0.05 dBの価値保証することができる典型的な価値0.02 dB低い使用した。

分解能帯域幅の高精度のとともに正確な力測定を行うのに、Q8383が使用することができる。

これらの特徴はすべてQ8383にerbiumdoped繊維のアンプ（EDFA）のための理想的な計器を作る。特別な測定機能はアンプの出力で信号が付いているアンプの入力で信号の簡単な比較によって雑音指数、利益および自然放出の決定を可能にする。これらの特徴はすべて半導体レーザー、LEDsおよび他の光源の測定のための大きい利点当然またである。曲線の当てはめ機能は発光スペクトルにガウス配分の一致によって直接エレクトロ ルミネッセンスの特徴を示す。これはエルビウムによって添加される繊維のアンプ（EDFA）およびLDsの測定の貴重な援助である。脈打ったライトのための特殊関数は繊維リングおよびSolitonの輸送システムの測定を可能にする。内部か外的な誘発は可能である。

測定の時間は200 nmのスパンのための二番目に0.8、スパンの機能として変わる。最も高い感受性は5 nmの決断のワイドバンドの源のために狭帯域の源（レーザー）は狭い分解能帯域幅の騒音レベルに確実に分析することができるが、達成される。白色光の源と共の標準化機能は光フィルタおよび繊維の伝達および損失の特徴の直接測定を可能にする。

上にあられた表示のようなアンプの分析に加えて、多目的な表示モード、記憶内容との比較、2つの別々の図表（分割された画面）の表示、複数のマーカーの力メートル機能、使用、動作減衰量、また自動帯域幅の分析（RMSへの例えば半価幅の測定の標準化および直接読み出しおよび封筒方法）、曲線の当てはめおよび他の多くの特徴検光子の操作を促進し、分析をIEC/IEEEバスで簡単にするため。

標準的な作り付けのディスク・ドライブは記憶媒体として使用される。貯えられたバイナリー データはMS-Windowsの下の適切なプログラムと分析され、文書にコピーされ、印刷することができる。高速作り付けのサーマル プリンターは8秒以内のすべての配置変数を測定の結果のハードコピーに与える。