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XJP-158Jの金属顕微鏡
XJP-158Jの金属顕微鏡はそれを使用するとき発達し、半導体工業、ウエファーの製造業、電子情報の企業、高度の金属顕微鏡として使用される冶金の企業をユーザー極度の性能を経験できます目指しました。それは半導体、FPDの回路のカプセル封入、回路の基質、材料、/金属/陶磁器の部品、精密型を投げること識別し、分析するために広く利用されます。この器械は反映する両方および透過照明、Bright&Dark分野、DICおよび分極の観察を採用します
反映はの下で照明進むことができ明るい分野の観察は透過光の下で行われます。良質および信頼できる光学系は大いにより明確な、シャープなイメージを持って来ます。設計はアーゴノミックスの必要性を満たし、あなたの仕事をすることで快適、にリラックスしている感じさせます
特徴および記述
1. UISの高解像、長い作動距離および無限軽い道を採用して下さい
システム客観的な画像技術の訂正
2. 客観的な、多用性がある無限の多重型になる技術の拡張
bright&dark分野を含むすべての観測法の目的、
観察、分極およびDICはまた高く明確をおよび鋭い提供します
各観測法のイメージ。
3. 観覧の明るさを高めるコーラーの非球面の表面の照明。
4. WF10× (Φ25)の極度の広い観覧分野の接眼レンズ、長い作動距離
明るく、暗視野との冶金の目的
5. Nosepieceは取り外し可能なDICの差動干渉と装備することができます
装置。
指定 | |
観覧の頭部 | 補償の自由なTrinocularの頭部、傾向がある30° (50mm-75mm) |
接眼レンズ | WF10×/25mm |
WF10×/20mmのreticule 0.1mmが付いているクロスヘア | |
客観的 | 長い作動距離のbright&dark分野Infinity.Planの目的: 5×/0.1B.D/W.D.29.4mm、10×/0.25B.D/W.D.16mm、 20×/0.40B.D/W.D.10.6mm、40×/0.60B.D/W.D.5.4mm、 |
Nosepiece | DICジャックの四倍のNosepieceを使って |
段階 | 二重層の機械段階 |
段階のサイズ:189mm×160mm | |
移動範囲:80mm×50mm | |
フィルター | Flashboardのタイプ フィルター(緑、青い、中立) |
コンデンサー | アイリス絞りおよびフィルターが付いているN.A.1.25聖職者コンデンサー |
集中 | ラック・ピニオンのメカニズムとの同軸粗い&fineの集中の調節。大丈夫です 集中の尺度値0.002mm |
光源 | 伝達照明:ハロゲン球根12V/50W、AC85V-230Vの調節可能な明るさ |
Epi照明:開きのアイリス絞りおよび分野のアイリス絞りを使って、ハロゲン 球根12V/50W、AC85V-230Vの調節可能な明るさ | |
分極装置 | 検光子360°rotatableは、偏光子および検光子両方軽い道出て行くことができます |
用具の点検 | 0.01mmのマイクロメートル |
任意付属品 | 二次元の測定ソフトウェア |
専門の冶金のイメージ分析ソフトウェア | |
Epi照明:ハロゲン球根12V/100W、AC85V-230Vの調節可能な明るさ | |
長い作動距離の明るい及び暗視野無限Planobjectives: 50×/0.55B.D/W.D.5.1mm、80×/0.75B.D/W.D.4mm、100×/0.80B.D/W.D.3mm | |
測微接眼レンズ | |
1.3Mega、2.0、3.0メガ メガ、5.0のメガ ピクセルCMOSデジタル カメラの接眼レンズ | |
写真撮影のattachmentand CCDのアダプター0.5×、0.57×、0.75× | |
DIC (10×、20×、40×、100×) | |
平らにする用具 | |
CCDのカメラは、1/3台の″の高リゾリューション520 TVラインを着色します |