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SMDケーブルの電子工学の部品のUnicompのX線の探知器AX8300
モデル | AX8300 |
最高kV/type | 110のkV (Option90 kV) /Sealed |
Max.Electronのビーム力 | 25W (Option8W) |
焦点点サイズ1 | 7μm |
システム拡大 | 1000Xまで |
イメージ投射システム(選択) | フラット パネルの探知器 |
マニピュレーター | 傾きの8軸線50度 |
測定の容積 | 最大負荷区域300x300mm2 |
Max.sampleの重量 | 5kg |
モニター | 22" LCD |
キャビネット次元 | 1100x1100x1650mm |
重量 | 1700kg |
放射の安全2 | <1> |
制御 | キーボード/マウス/ジョイスティック |
自動化された点検 | 標準 |
第一次適用 | 点検/電子部品/自動parts.etcを欠いて下さい |
1.Focal点サイズは変数です。unicompに相談して下さい 2.X光線の安全責任:Unicompの技術によって製造されたすべてのレントゲン撮影機は会います FDA-CDRHの規則CFR 21のキャビネットのX線システムのための1020.40 Subchapter J。放射の放出があらゆる外的な表面からのexceed.5millirem/hr.2 "キャビネットのX線のシステム状態のためのFDA-CDRHの標準。私達の機械は普通15timesより少ない放出です。 |
適用
はんだの退潮の分析
BGAの結合性および分析
はんだの無効の計算
穴の測定および点検によって
測定を無効にする付加は死にます
球のとらわれの分析
ステッチのとらわれの分析
チョップの分析のマイクロBGA/破片
パッドの配列の分析
乾燥した共同検出および分析
目的の段階制御
1. 段階の速度を調節するスペースバーによって:遅く、一定した最高速度
2. キーボード制御X、Y、Zの三軸の動きおよび傾向がある角度
3. ユーザーは段階の速度を制御し、要網的に曲がることができます
点検イメージ: